了解電池單體電壓，對于保障電池健康狀態、荷電狀態（SOC）、安全性和性能至關重要。在電池使用過程中監測電壓，有助于識別老化、充放電不當或內部故障等問題。測試階段，精準的電壓測量是評估電池在負載下、充放電循環中及不同環境條件下響應特性的關鍵。這些數據能幫助發現容量衰減、單體失衡，或是熱失控等潛在安全風險。不準確的電壓讀數會導致錯誤的測試結果，可能掩蓋電池缺陷，或造成電池特性誤判、分級不當。高質量電壓測量的重要性下面將分析影響電壓測量質量的因素，以及這些測量誤差如何影響測試結果的可靠性。測量電池自放電效應時，
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測量 電池電壓 電壓測量 202512
_____動態導通電阻（RDS(on)）是電源轉換器設計人員理解電荷俘獲效應影響的重要參數。然而，關于其測量技術的知識體系仍相對較新。傳統的動態RDS(on)測量技術依賴于二極管鉗位電路，使示波器能夠以足夠的分辨率測量漏源電壓，而不會使示波器輸入過載。泰克為4、5和6系列MSO示波器推出的寬禁帶雙脈沖測試（WBG-DPT）測量軟件引入了一種新的軟件鉗位方法，采用獨特的雙探頭技術，無需使用鉗位電路。測量動態RDS(on)的挑戰動態RDS(on)是指FET在開關過程中導通時，漏極與源極端子之間的平均電阻。漏源
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動態導通電阻 RDS(on)測量 泰克 GaN Tektronix
人工智能 （AI） 有可能改變產品生命周期的每個階段，從設計和制造到運營和維護。雖然這種說法似乎很明顯，但測試和測量產品和流程的確切情況仍然成為焦點（圖 1）。正如在測試和測量這樣一個眾所周知的保守行業中所預料的那樣，迄今為止，AI 主要用于適度的、漸進的改進。解析文檔以幫助用戶設置和作產品的工具顯然是一個起點。更進一步，一些產品現在提供基于 AI 的功能，例如神經網絡，或針對特定參數的基于 AI 的優化。對于管理大型數據集的科學家和工程師來說，用于后處理、檢測異常、跟蹤趨勢和指導決策的軟件工具非常強大，
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AI 測試 測量 儀器
意法半導體（ST）推出了一款傳感器，該傳感器將慣性測量單元（IMU）與嵌入式人工智能相結合，并針對活動跟蹤和高沖擊測量進行了優化。LSM6DSV320X 傳感器是行業首創的常規尺寸模塊，尺寸為 3 x 2.5 mm，內置 AI 處理功能，可連續記錄運動和沖擊。創新的雙加速度計設備可確保高達 16 克的活動跟蹤和高達 320 克的沖擊檢測的高精度。這兩個加速度計采用意法半導體獨有的先進技術，旨在實現共存和最佳性能。其中一款加速度計經過優化，可在活動跟蹤中實現最佳分辨率，最大范圍為 ±16g。另一個加速度計可
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活動跟蹤 高g沖擊 測量 傳感器 ST IMU LSM6DSV320X
典型的半導體電容在pF或nF范圍內。許多商業上可用的LCR表或電容計補償后可以使用適當的測量技術來測量這些值，然而，一些應用需要在飛秒法（fF）或1e-15范圍內進行非常靈敏的電容測量。這些應用包括測量金屬到金屬的電容，晶片上的互連電容，MEMS器件，如：開關，納米器件端子之間的電容。如果沒有使用適當的儀器和測量技術，這些非常小的電容很難進行測量。使用4200A-SCS參數分析儀配備的4215-CVU（CVU），用戶能夠測量大范圍的電容，<1pF非常低的電容值也能測到。CVU采用獨特的電路設計，并由
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電容 測量
發光二極管主要部分也是一個PN結，但是發光二極管導通后，其壓降一般都是2V左右，有的發光二極管的壓降可以達到3V。一般的普通二極管壓降也就0.5V左右，比如肖特基二極管。發光二極管一般用作指示燈。比如電源指示燈，通信指示燈，比如串口收發數據時，通過發光二極管閃爍，來表示正在收發數據。在電路設計中，需要串聯一個限流電阻。這個限流電阻的大小如何取值？首先我們應該知道發光二極管的正向電壓、正向電流。某一個發光二極管的正向電壓為2.5V，正向電流為5mA，這個正向電流有個取值范圍，電流太大，可能燒毀二極管，電流太
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發光二極管 萬用表 測量 電路設計
本指南將介紹如何使用泰克8通道5系列B MSO示波器的逆變器、電機和驅動器分析軟件對變頻驅動器的輸入、直流母線和輸出進行穩定、準確的電氣測量，以及對電機進行機械測量。大多數現代電機驅動系統使用某種調制形式來控制電機頻率，從而控制電機速度。在大多數情況下，此類變頻驅動器 (VFD) 通過輸出精心控制的脈沖寬度調制 (PWM)波形來實現這一點。此類系統通常以三相形式輸出功率，因為三相是電機的最佳配置。自電氣工程誕生以來，三相交流感應電機(ACIM) 一直是工業領域的主力。它們可靠、高效、成本低且幾乎不需要維護
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三相電機 驅動器 測量
抖動話題是示波器測量的最高境界，也是最風云變換的一個話題，這是因為抖動是示波器測量的諸多功能中最和“數學”相關的。 玩數學似乎是需要一定境界的。 1，抖動和波形余輝的關系有一種比較傳統的測量抖動的方法，就是利用余輝來查看信號邊沿的變化，然后再用光標測量變化的大小（如圖1所示）。后來高端一點的示波器具有“余輝直方圖”的功能，利用余輝直方圖和相關參數可以自動測量出信號邊沿變化的余輝的變化范圍。
在上個世紀90年代初示波器有了真正意義的“測量統計”功能之后，這個方法就逐漸被淘汰了。&n
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抖動 示波器 測量
Boen提倡采用全面的協作方法來推進AI/ML技術，她認為創新對于促進社會進步至關重要，可以改變我們的工作和生活方式。她的理由是，技術開發能夠促使該行業推出新的市場解決方案。泰克戰略技術和先進集成電路 (AICS) 總監Sarah Boen與Electronic Specifier對話，以下內容為本文對話要點。測試和測量行業在過去十年中取得了巨大發展，目前有哪些關鍵變化正在改變行業格局？過去二十年，我有幸在測試和測量行業工作，我想說，該行業當前充滿了巨大且振奮人心的變化。測試和測量行業過去提供通用解決方案
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高光譜成像技術是近些年來迅速發展起來的、一種全新的影像分析檢測技術,它是集圖像傳感器、精密光學，精密機械、計算機信息處理技術于一體的綜合性技術。在高光譜數據采集過程中,成像光譜儀以納米級的光譜分辨率,以幾十或幾百個波段對檢測目標成像,形成海量數據的數字影像集（也稱數據立方體Data Cube），實現了目標的光譜信息、空間信息及輻射信息的同步獲取,因而在目標檢測和目標識別領域具有巨大的應用價值和廣闊的發展前景。高光譜成像相比傳統的影像技術有以下的優點在相應的光譜范圍內，具有上百個光譜通道的影像數據，影像上每
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MV.C機器視覺 檢測 測量
引言 在許多應用中，無法通過實際接觸來測量與目標之間的
距離。典型示例包括測量物流中心的傳送帶上是否存在
物體，確保與運動中的機械臂保持安全距離，確定倉庫
中人員或機器人相對于資產的位置。飛行時間 (ToF) 位
置傳感器有助于利用光線到達物體及返回所需的時間來
測量距離。OPT3101 是高速、高分辨率 AFE 的一個
典型示例，適用于完全集成且基于 ToF 的連續波位置
傳感器。該傳感器可在 15m 不模糊的范圍內實現 16
位距離輸出。有關 OPT3101 的更多信息，請參
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ToF 位置傳感器 測量
SiC FET在共源共柵結構中結合硅基MOSFET和SiC JFET，帶來最新寬帶隙半導體技術的性能優勢，以及成熟硅基功率器件的易用性。SiC FET現可采用表面貼裝TOLL封裝，由此增加了自動裝配的便利性，同時減少了元件尺寸，并達成出色的熱特性，在功率轉換應用中實現了功率密度最大化和系統成本最小化。寬帶隙（WBG）半導體開關，如碳化硅共源共柵結構FET（以下簡稱“SiC FET”）和SiC MOSFET的性能與其封裝密切相關。在純技術層面，納秒級的開關速度和較低的比導通電阻帶來非常低的損耗；在相同的芯片
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Qorvo RDS
Diodes 公司 (Diodes) (Nasdaq：DIOD) 今日宣布推出一系列采用高穩定性零點漂移架構的雙向電流顯示器。這些裝置能夠在廣泛的共模電壓范圍內準確測量極低感測電壓。主要產品應用項目包括筆記本電腦、電池充電器、工業伺服裝置、服務器、服務器農場中的電源機架和機器人系統。ZXCT199 系列電流顯示器裝置有六款產品可供選擇，每一款都有一個高精準運行的精密截波穩定運算放大器。其低補償電壓使得電流感應在分流器上的最大壓降，低至 10mV 滿刻度。這么一來便能使用平價、低值的分流電阻器組件來測量大電
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Diodes 雙向電流顯示器 測量
人工智能（AI）算法包含三個基本核心要素：1) 具備測量能力；2) 知道其中有多少測量需要進一步處理；3) 并行處理多路輸入的能力。是德科技全球企業和產品營銷副總裁 Jeff Harris系統的潛力是指它的可測性以及可達到的測量深度，而潛力的發揮則指的是決定系統必須將哪些方面的測量結果發送給處理器進一步處理。最后，傳感器融合指的是了解如何以正確的比例將不同傳感器的測量結果合并在一起，算法的智商有多高，推理的潛力有多大，這是我們探索的關鍵。通過反饋環路增強傳感器融合，算法將能夠校驗和糾正自身的邏輯
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近日，羅德與施瓦茨宣布推出全新高性能 R&S ADD597 測向和監測一體化天線系統。該系統是固定、移動和可搬移式頻譜監測站的關鍵組件。R&S ADD597結合使用單通道測向機，即使在密集頻譜環境中也能提供可靠的測量結果。系統提供從 20 MHz 至 8.5 GHz（垂直極化）和 20 MHz 至7.5 GHz（水平極化） 頻率范圍的高精度測向能力。 R&S ADD597 具有高精度
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羅德與施瓦茨 測量 一體化天線
rds(on)測量介紹
您好，目前還沒有人創建詞條rds(on)測量!
歡迎您創建該詞條，闡述對rds(on)測量的理解，并與今后在此搜索rds(on)測量的朋友們分享。
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