基于FPGA的抗SEU存儲器的設計實現,O 引言隨著我國航空航天事業的迅猛發展，衛星的應用越來越廣泛。然而，太空環境復雜多變，其中存在著各種宇宙射線與高能帶電粒子，它們對運行于其中的電子器件會產生各種輻射效應。輻射效應對電子器件的影響不可忽視
關鍵字：
設計 實現 存儲器 SEU FPGA 的抗 基于
抗SEU存儲器的FPGA設計實現,O 引言 隨著我國航空航天事業的迅猛發展，衛星的應用越來越廣泛。然而，太空環境復雜多變，其中存在著各種宇宙射線與高能帶電粒子，它們對運行于其中的電子器件會產生各種輻射效應。輻射效應對電子器件的影響不可
關鍵字：
實現 設計 FPGA 存儲器 SEU
抗SEU存儲器的設計的FPGA實現, O 引言 隨著我國航空航天事業的迅猛發展，衛星的應用越來越廣泛。然而，太空環境復雜多變，其中存在著各種宇宙射線與高能帶電粒子，它們對運行于其中的電子器件會產生各種輻射效應。輻射效應對電子器件的影響
關鍵字：
實現 FPGA 設計 存儲器 SEU
引言
隨著工藝技術的迅速發展，創新進一步提高了器件在速率、容量和功耗等方面的性能，使得FPGA比ASIC更具優勢。然而，技術的發展也突出了以前可以忽略的某些效應，例如，單事件干擾(SEU)導致的軟誤碼影響越來越大。通過仔細的IC設計，65nm節點單位比特的軟誤碼率有所下降，但是每一工藝節點的邏輯容量在不斷翻倍，配置RAM(CRAM)比特數量也隨之增長。
現在的FPGA容量越來越大，功能越來越強，逐漸擔負起系統的核心功能，例如數據通路等；因此，設計人員能夠將系統集成在一片可編程芯片中。這些發
關鍵字：
SEU 干擾率
seu介紹
SEU是Single event upset的縮寫，中文譯為單粒子翻轉。是SEE的一種表現形式。
Single event upset (SEU) is defined by NASA as "radiation-inducederrors in microelectronic circuits caused when charged particles(usually from the rad [
查看詳細 ]
關于我們 -
廣告服務 -
企業會員服務 -
網站地圖 -
聯系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網安備11010802012473
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網安備11010802012473