IC 封裝的熱特性對IC 應用和可靠性是非常重要的參數。本文詳細描述了標準封裝的熱特性主要參數：熱阻(ΘJA、ΘJC、ΘCA)等參數。本文就熱阻相關標準的發展、物理意義及測量方式等相關問題作詳細介紹，并提出了在實際系統中熱計算和熱管理的一些經驗方法。希望使電子器件及系統設計工程師能明了熱阻值的相關原理及應用，以解決器件及系統過熱問題。
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德州儀器 -熱阻 IC 封裝
摘要：目前大多數無線通信設備通信距離近，硬件成本高，設計復雜。本設計采用基于微功率通信芯片SI4432、LPC2103微控制器和mu;C/OS-II嵌入式操作系統設計的無線通信系統，不僅通信距離遠、模塊成本低、集成度高、通
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LPC2103 SI4432 μC／OS-II 無線通信 嵌入式系統
基于STM32和μC／OS-II的嵌入式數字示波器設計, 摘要：提出了一種基于嵌入式技術的嵌入式數字示波器設計方法，硬件設計以STM32為主控核心，采用高性能低噪聲的AD8066電壓反饋性放大器、壓控增益放大器AD603和雙路D/A轉換器TLV5618A組成程控放大電路，并采用高速帶
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STM32 數字示波器 嵌入式 μC／OS-II
回顧2011～2015年資料，中國IC產業年產值增幅保持在10%以上，近2年增長幅度更是維持在20%左右，而制造端從2012年起增速逐步上升，至2015年產值年增率更是來到25%，充分體現中國在IC制造產業發展方面強烈的國家意志。
一、中國IC產業產值
與IC制造業產值
積 體電路產業在國家經濟發展和國家安全中占有至關重要的地位，2000年以來，中國政府發表了一系列IC產業重點扶持和發展政策從未間斷，其中“國家積體電 路發展推進綱要”提出目標：中國積體電路產業
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晶圓 IC
很多國際企業與大師來中國，不一定是對中國有多么深的感情，而是因為中國的市場。因為海外可能沒有這么大的市場，或市場已經發展完了，而只有中國才有這種投資建設的需求。 北京中關村集成電路(IC)設計園正是看到了這點。一方面，積極扶植園內中小型企業，另一方面，建立海外對接平臺力圖吸引國際化的創業團隊，為他們提供在華企業注冊、辦公條件、項目投融資等眾多便利條件。“我們按照世界一流園區來建造，成為‘全球‘芯’創中心’只是一個時間問題。”北京中關村集成電路設計園發展有限責任公司副總經理指出。 據悉，園區將打造創
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北京中關村集成電路(IC)設計園 安俠睿 201610
傳統上，一直用高效率開關穩壓器給這類器件供電，但是開關穩壓器可能有潛在的噪聲干擾問題以及瞬態響應和布局限制。因此， 低壓差(LDO)線性穩壓器在這類應用以及其他低壓轉換系統中開始受到關注。本文通過介紹LDO和其他穩壓器面臨的挑戰以及凌力爾特公司的LT306x 系列穩壓器，說明了在新的電路設計方法和改進的芯片制造工藝下LDO的特點以及應用前景。
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LDO 線性穩壓器 IC 負載 201610
前言uC/OS II(Micro Control Operation System Two)是一個可以基于ROM運行的、可裁減的、搶占式、實時多任務內核，具有高度可移植性，特別適合于微處理器和控制
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pcDuino μC/OS II
引言應用實時多任務操作系統(RTOS)作為嵌入式設計的基礎和開發平臺將成為嵌入式應用設計的主流。μC/OS-II是一種源碼公開、可移植性、可固化、可裁
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μC/OS-II CAN總線 數據采集 驅動程序
1 引言在采用前后臺系統軟件設計模式的嵌入式系統中，主程序是一個無限循環，單任務順序執行，通過設置一個或多個中斷來處理異步事件。這種系統
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實時操作系統 μCOS-II S12單片機
5S和iPad 5的傳聞已經流傳。還不算太過份，但確實都在傳。這兩款機很有可能會分別采用A7和A7X處理器。這意味著，除非蘋果不再設計定制化的芯片，而
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uC/OS-II 移植 操作系統 處理器
基于μC／OS-II的低功耗車載防盜系統的設計, 當今市場的汽車的防盜手段通常都是被動防盜型的，即采機械式或者電子式的手段當車輛遇到非法入侵時車輛防盜系統會采取預設的防盜手段并自動報警。此類的防盜器占絕大部分市場。此類防盜器在一定程度上能對非法入侵者
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μC／OS―II MSP430 GPS定位 單片機車載防盜
全球功率半導體和管理方案領導廠商——國際整流器公司 (International R
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LED 驅動 IR IC
如何準確判斷電路中集成電路IC的是否工作，是好是壞是修理電視、音響、錄像設備的一個重要內容，判斷不準，往往花大力氣換上新集成電路而故障依然存在，所以要對集成電路作出正確判斷。
1、首先要掌握該電路中IC的用途、內部結構原理、主要電特性等，必要時還要分析內部電原理圖。除了這些，如果再有各引腳對地直流電壓、波形、對地正反向直流電阻值，那么，對檢查前判斷提供了更有利條件;
2、然后按故障現象判斷其部位，再按部位查找故障元件。有時需要多種判斷方法去證明該器件是否確屬損壞。
3、一般對電路中I
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IC 集成電路
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