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氮空位缺陷
氮空位缺陷 文章 最新資訊
量子傳感器初創(chuàng)公司尋找三維芯片的缺陷
- 芯片制造商正越來(lái)越多地采用晶體管層堆疊技術(shù),在有限空間內(nèi)集成更強(qiáng)計(jì)算能力。然而,當(dāng)前用于檢測(cè)可能導(dǎo)致 3D 芯片失效的深埋缺陷的技術(shù),要么效果不佳,要么具有破壞性。不過(guò),一家初創(chuàng)公司表示,基于人造鉆石的新型量子傳感器有望幫助代工廠在生產(chǎn)過(guò)程中快速捕捉這些隱藏缺陷,且不會(huì)對(duì)芯片造成損壞,這可能為行業(yè)節(jié)省數(shù)十億美元成本。馬里蘭州大學(xué)公園市量子技術(shù)公司 EuQlid 的聯(lián)合創(chuàng)始人兼首席執(zhí)行官 Sanjive Agarwala 表示:“芯片中電流傳輸所依賴的互連結(jié)構(gòu)若存在缺陷 —— 無(wú)論是金屬沉積不當(dāng)、硅片裂紋還
- 關(guān)鍵字: 氮空位缺陷 3D 芯片 量子傳感器
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氮空位缺陷介紹
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