久久ER99热精品一区二区-久久精品99国产精品日本-久久精品免费一区二区三区-久久综合九色综合欧美狠狠

新聞中心

EEPW首頁 > 測試測量 > 業界動態 > Multitest的MT9510通過XTC實現擴展溫度控制

Multitest的MT9510通過XTC實現擴展溫度控制

作者: 時間:2011-05-09 來源:電子產品世界 收藏

  面向集成設備制造商(IDM)和最終測試分包商,設計和制造測試分選機、測試座、測試負載板的領先廠商公司,日前宣布欣然宣布其通過擴展溫度校準()功能實現了擴展溫度控制。

本文引用地址:http://cqxgywz.com/article/119340.htm

  今天,越來越多的 IC(如顯卡芯片)需要針對DUT(受測元件)的中程功率耗散控制。對于多數此類應用來說,大量投資于既定的ATC(主動熱控)系統是不恰當的。一些半導體制造商試圖通過開發自己的專利解決方案來應對該問題。但這種做法將其資源耗費在并非其主營業務的領域,實際上也沒有帶來真正“整體”解決方案的優勢。

  利用在溫度控制方面的豐富經驗,針對高達50瓦特的中程功率耗散,開發出基于擴展溫度校準()的獨特解決方案。DUT內部的芯片穩定在設定溫度,同時亦避免了與測試針接觸之后的溫度變化。

  被集成到轉換套件中。除成本效率之外,這還確保可完全用于市場上任何拿放式分選機。



關鍵詞: Multitest XTC MT9510

評論


技術專區

關閉