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Multitest推出信號及電源完整性術語表

作者: 時間:2012-08-07 來源:電子產品世界 收藏

  面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終測試分包商,設計和制造最終測試分選機、測試座和負載板的領先廠商公司,日前發布信號及完整性術語表。由的信號完整性工程師Ryan Satrom編制的新術語表解釋了與完整性相關的主要術語和概念。

本文引用地址:http://cqxgywz.com/article/135442.htm

  

 

  完整性是關于通過盡量降低電源配送網絡(PDN)的噪音來向DUT提干凈的電源電壓學術。正在迅速成為測試接口設計中的最大挑戰之一。

  電源完整性的影響預計在未來幾年將不斷提高。對于測試業界來說,了解到測試接口所帶來的電源完整性挑戰的相關問題,并且提高其能力來應對這些挑戰正在變得日益重要。



關鍵詞: Multitest 電源

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