六　兼容性測試的經濟效應

　　兼容性測試的初期成本很高，需要大量昂貴的設備來構建測試環境，即便是外發委托測試，也會產生許多費用，隨著產品的多樣化，投入費用只會比前者更多。除此以外，設計者們還需要對測試過程中暴露出的不合格或不理想的環節做出修改，人力、物力、財力上都會承擔一定的負擔。因此，很多制造商會對是否有必要進行兼容性測試這一問題上產生疑慮。

　　然而，從長遠來看，能夠引入兼容性測試這個概念的商家，各種好處將會在后期越來越多的得以體現。我們知道，EMC設計和EMC測試是相輔相成的。EMC測試直接反映了EMC設計的好壞。只有在產品的EMC設計和研發過程中進行EMC相容性的預測和評估，才能及早發現可能存在的電磁干擾，并采取有效的抑制和防范措施，從而確保系統的電磁兼容性。EMC設計一個經驗累積的過程，積累越多的經驗，就越能減少在修改設計和補救措施上的花費。另一方面，如今產品質量的重要性逐漸被更多的人所認識，做過兼容性測試的產品較之沒有做過兼容性測試的產品在性能質量及可靠性方面有更高的保障，這對于樹立良好的品牌形象帶來更多的經濟收益是至關重要的。

　　七　兼容性測試與LED性能標準

　　LED照明技術問世以后，由于缺少固態照明（SSL）的標準使市場上出現了諸多混亂。不同廠商間測試方法和術語的不同使新興的LED產品很難與傳統照明產品進行比較，LED產品間也無法比較。為解決這一困境，在2008年由一些權威組織和機構聯合頒布了LM-79和LM-80標準：前者是固態照明設備電子和光度的認可測試方法，可以計算LED產品的燈具效率（通過光凈光輸出量除以輸出功率計算每瓦流明量），燈具效率是測量LED產品性能最可靠的途徑，通過衡量燈具性能替代曾經依賴的傳統手段來區別燈具等級和燈具功效，這項標準為幫助建立燈具性能的精確比較提供基礎，不僅僅是固態照明產品同時也針對各種光源；后者是LED光源流明衰減核定測量方法，通過對光源流明衰減方式的定義，從而對LED預期壽命進行評估，與靠燈絲發光的光源不一樣（燈絲發光的燈會完全失效不亮），而發光二極管通常不會這樣，LED的光會隨著時間慢慢的減弱，這是所謂的流明衰減，這項標準是對流明衰減測試的方法制訂了一套標準。除此以外，還有一些關于LED的性能標準，在此不一一列舉了。如今的LED照明器件及系統的兼容性測試，應該結合這些標準，從而獲取更多有關LED照明器件及系統在日常真實的電氣環境中的使用性能知識。

　八　兼容性測試環境設計的實例

　　在此以SJ-T2355-半導體發光二極管芯片的靜電抗干擾測試為例，簡單說明兼容性測試應該如何具體去實施，以及如何檢驗。

　　SJ-T2355-半導體發光二極管芯片的靜電放電敏感性測試和分類：

　　1） 人體模式的靜電放電敏感性測試

圖1人體模式的靜電放電敏感性測試原理圖

　?、?雙極性脈沖發生器應該設計為避免重復充電和產生雙脈沖。不能靠交換A、B端點來獲得雙極性性能。

　　② 開關SW1須在脈沖通過后關閉10ms～100ms，以確保被試插座不在充電狀態，它也應該先于下個脈沖到來前至少開啟10ms。電阻R1和開關串聯以確保器件有一個慢放電，這樣就避免了一個帶電器件模式放電的可能性。

　?、?圖1中評價電阻負載1為：一種截面為0.83mm2～0.21mm2鍍錫銅短路線，跨距適合試驗插座。負載2為：500Ω，±1%，1000V，低電感薄膜電阻。

　?、?示波器要求：最小靈敏度100mA/cm（電流傳感器），帶寬350MHz，最小寫入速率1cm/ns。

　?、?電流傳感器要求

　　——最小帶寬350MHz；

　　——峰值脈沖電流12A；

　　——上升時間小于1ns；

　　——能采用1.5mm直徑的實導體；

　　——能提供1mv/mA～5 mv/mA的輸出電壓；

　?、?測試插座上再疊插一個插座（第二個插座疊插在主測試插座上）的情況，僅在第二個插座的波形滿足本標準的要求才允許；

　?、?使用短路線，分別獲得各敏感度等級的電流波形，修正這些波形使滿足圖2的要求；

　　⑧ 電流脈沖應滿足下列特性

　　——脈沖上升時間tr為：5ns～25ns；

　　——最大允許振鈴波峰對峰值Ir必須小于Ipr的15%，脈沖起始后要求100ns內沒有明顯振鈴波；

　　——如圖4所示，Ipr是通過500Ω負載電阻的峰值電流，對于1000V預充電壓它應在375mA～500mA之間。對于4000V預充電電壓它應在1.5A～2.2A。它不應小于相同靈敏度等級的早先測量得到的Ips值的63%。

圖2 通過短路線的電流脈沖