復雜的DUT可能在測試夾具循環至下一個部件之前要求多次的源激勵信號和進行相應的響應信號的測量。縮短測試時間的第一步可通過將單獨功能的源－測量儀器轉變為集成式的SMU獲得。這將減少觸發延遲時間以及在分立儀器和PC控制器之間的數據通信時間。如果SMU具有內部程序存儲器[2]，這將進一步減少數據通信時間和PC執行測試程序的時間，因為該SMU可從其自身的存儲器中運行測試序列。

有些 SMU 具有可運行多達 100個預定義測試序列的程序存儲器，在測試過程中，可進行極限比較、執行有條件的測試程序分支或者選擇與否 PC 控制器一同工作。采用這種類型的設計，易在單通道系統中獲得在測試時間上的顯著改進。但是，管理多個觸發器和測試序列是非常困難的，在多SMU系統中進行測試時間的改進因而要復雜得多。(參見文后的“SMU 測試序列的優勢”部分)

因為存在困難，所以多SMU系統設計可采用測試序列發生器，存儲多個GPIB命令到SMU內，然后由PC控制器發簡單的SCPI調用執行這些命令。在這樣的設計中，系統沒能提供所需的邏輯電路去執行極限測試或作出通過/失效判斷，即沒有與DUT 分選處理機的接口。因此，這類設計在數據通信總線上仍有大量的GPIB通信[3]。而且，多SMU系統并不能像它們在并行測試中那樣能被有效地運用，相反，經常被順序訪問這些SMU，因此系統速度與吞吐量的增加不是很大。

現在，速度最快的SMU使用了測試腳本處理器和高速控制總線，多個SMU采用主從架構真正實現并行多通道操作。這種類型的設計已經用于吉時利的2601[4]和2602型數字源表（System SourceMeter?）儀器中。