可降低測試成本的重要參數(shù)

在本文的前面，介紹過四個(gè)降低測試成本的關(guān)鍵因素：縮短測試時(shí)間、縮短開發(fā)時(shí)間、減少測試設(shè)備所占的面積和機(jī)架的空間大小以及降低系統(tǒng)的保有成本。每個(gè)因素都有許多有待研究的方面。

縮短測試時(shí)間。當(dāng)DUT裝入測試夾具或測試夾具從一個(gè)DUT[2]循環(huán)至下一個(gè)DUT時(shí)，幾個(gè)不同的時(shí)間間隔構(gòu)成了測試系統(tǒng)總循環(huán)時(shí)間的絕大部分。這些時(shí)間間隔取決于系統(tǒng)設(shè)計(jì)，一般包括：

u 源激勵(lì)時(shí)間（包括信號的瞬態(tài)響應(yīng)[3]時(shí)間）

u DUT穩(wěn)定時(shí)間

u 測量時(shí)間

u 源－測量儀器的量程改變次數(shù)

u 分立的儀器之間或PC控制器和測試儀器之間的觸發(fā)延遲時(shí)間

u 測試命令、數(shù)字輸入/輸出、觸發(fā)以及將所采集的數(shù)據(jù)移至存儲(chǔ)器或PC內(nèi)存[4]中所需的數(shù)據(jù)通信時(shí)間

u 比較測量值和極限值并作出通過/ 失效判別或分選判別所需的程序執(zhí)行時(shí)間

u 測試夾具的物理運(yùn)動(dòng)或電子開關(guān)的間隔時(shí)間