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器件選型研討會助力“中國創造”高性能測試儀器

作者: 時間:2013-11-28 來源:網絡 收藏

2013首屆儀器儀表器件選型技術研討會即將開幕

  ,作為測試技術中最重要的工具,一直是一個看似規模并不龐大,但影響深遠的市場。據統計,雖然每年的市場只占全球經濟總量的萬分之二,但是卻帶動著全球70%以上的經濟增長,而對中國產業格局來說,電子一直是電子產業中相對滯后的一環,儀器產業的滯后間接延緩了我國電子產業的高速發展。

  每個電子設計工程師的工作離不開測試儀器,而測試儀器的設計開發同樣源于廣大電子工程師的智慧。研發人員在儀器儀表的研發過程中,不可避免涉及到各種電子器件的選型問題,測試儀器對半導體器件有著極為獨特的性能與指標的需求,為此眾多電子元器件廠商也針對測試儀器開發出各種專門的產品。如何將這些產品合理的選型及應用到自己的儀器設計中,從而讓設計工程師開發出、易使用、可靠性好又有成本優勢的測試儀器,對提升中國制造的測試儀器產品的競爭力至關重要。

  2013年11月13日,在第82屆中國電子展同期,中國電子展組委會將與《電子產品世界》雜志社合力舉辦“首屆儀器儀表器件選型技術研討會”。我們誠摯邀請廣大電子工程師光臨上海國際展覽中心,和專家一起圍繞“模擬前端在測試儀器設計中的重要意義與選型特殊需求”“ADC的性能對測試儀器信號捕獲的價值及選型指導”“如何選擇最適合的放大器及相關信號處理系統”“FPGA在測試儀器設計中的優勢與應用實例”“測試儀器用操作系統應用指南”“信號分析與信號處理技術在不同測試儀器中的應用”等題目進行探討,共同傾聽眾多半導體廠商最新的產品在電子測試儀器設計中的應用技巧與相關方案,并交流工程師的儀器設計需求,共同尋找最有針對性的設計解決方案。



關鍵詞: 高性能 測試儀器

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