高靈敏度的TIA設計及驗證 作者：賀建龍 時間：2014-04-01 來源：電子產品世界 加入技術交流群 掃碼加入和技術大咖面對面交流海量資料庫查詢 收藏 <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> 高靈敏度的TIA的電路設計和仿真驗證本文引用地址：http://cqxgywz.com/article/235719.htm 經過仔細思考，借鑒其它設計并激發靈感，設計出了一種具有高靈敏度的TIA電路。其具體的電路設計如圖2所示。其特點在于將跨阻分為兩部分R1與R2，并且插入一個對地的電阻網絡R3與C1。其中運放的正負端電壓選取0V用來減少參考點其對輸出電壓的干擾。在正端串聯電阻R4可以減少運放輸入偏置電流(μA量級)的影響。 假設運放為理想運放，令中間節點為X，具體的電路分析如下：
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