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測(cè)試 文章 最新資訊

生產(chǎn)環(huán)境下高亮度LED的高精度高性價(jià)比測(cè)試

  • 可見光發(fā)光二極管(LED)兼具高效率和長(zhǎng)壽命的特點(diǎn)。目前,它們的應(yīng)用十分廣泛。制造商們通過(guò)對(duì)LED器件的深入研究已經(jīng)研制出了具有更高光通量、更長(zhǎng)壽命、更多色彩和更高每瓦流明數(shù)的新器件。精確而高性價(jià)比的測(cè)試對(duì)于確保器件的可靠性和質(zhì)量至關(guān)重要。
  • 關(guān)鍵字: LED  測(cè)試  I-V1特性  201107  

WT3000三相功率分析儀在電源測(cè)試中的應(yīng)用研究

  • 摘要:為了改進(jìn)傳統(tǒng)的電源測(cè)試方法,采用電源功率分析儀WT3000取代傳統(tǒng)測(cè)試設(shè)備,并配合電子負(fù)載、計(jì)算機(jī)、程控接口等實(shí)現(xiàn)電源的自動(dòng)測(cè)試。經(jīng)試驗(yàn)證明,該電源功率分析儀簡(jiǎn)化了好多原本繁冗的操作步驟,同時(shí)也避免了
  • 關(guān)鍵字: 測(cè)試  應(yīng)用  研究  電源  分析儀  三相  功率  WT3000  

ZigBee無(wú)線通信測(cè)試方案

  • 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
  • 關(guān)鍵字: ZigBee  無(wú)線通信  測(cè)試  PXI  射頻向量信號(hào)分析  

基于軟件測(cè)試技術(shù)的FPGA測(cè)試研究

  • 基于對(duì)FPGA系統(tǒng)失效機(jī)理的深入分析, 提出了軟件測(cè)試技術(shù)在FPGA測(cè)試中的應(yīng)用, 并分析了其可行性; 通過(guò)對(duì)比FPGA與軟件系統(tǒng)的異同, 歸納出FPGA特有的測(cè)試要求,從而在軟件測(cè)試技術(shù)的基礎(chǔ)上針對(duì)FPGA的特點(diǎn)進(jìn)行改進(jìn), 形成了一套實(shí)用的FPGA測(cè)試方法。
  • 關(guān)鍵字: FPGA  軟件  測(cè)試技術(shù)  測(cè)試    

熱設(shè)計(jì)與測(cè)試:實(shí)現(xiàn)可靠 SSL 的關(guān)鍵因素

  • 與向外輻射熱量的白熾燈不同,LED產(chǎn)生的熱量必須以傳導(dǎo)的方式從這些半導(dǎo)體器件散播出去。如果沒有合適的熱管理,LED光能輸出會(huì)減少,主波長(zhǎng)和峰值波長(zhǎng)則會(huì)增加,而色溫也會(huì)發(fā)生變化。對(duì)于確保固態(tài)照明(SSL)燈具的功
  • 關(guān)鍵字: SSL  熱設(shè)計(jì)  測(cè)試    

用專業(yè)的耳朵辨別市面常見平板音質(zhì)

  • 隨著平板裝置這一年多來(lái)在消費(fèi)電子產(chǎn)品市場(chǎng)的火速竄紅,越來(lái)越多的傳統(tǒng)電腦和手機(jī)廠商都紛紛投入這塊領(lǐng)域積極...
  • 關(guān)鍵字: 音質(zhì)比拼  媒體平板  PC  測(cè)試  

通用網(wǎng)絡(luò)協(xié)議一致性測(cè)試平臺(tái)的設(shè)計(jì)與研究

  • 摘要:針對(duì)我國(guó)當(dāng)前網(wǎng)絡(luò)互連、互通的迫切需求,提出了一種通用的網(wǎng)絡(luò)協(xié)議一致性測(cè)試平臺(tái)的設(shè)計(jì)方案。通過(guò)對(duì)通用平臺(tái)硬件結(jié)構(gòu)和軟件設(shè)計(jì)的說(shuō)明,闡述了通用平臺(tái)的工作過(guò)程和測(cè)試方法,為網(wǎng)絡(luò)協(xié)議一致性測(cè)試提出了有效
  • 關(guān)鍵字: 平臺(tái)  設(shè)計(jì)  研究  測(cè)試  一致性  網(wǎng)絡(luò)  協(xié)議  通用  

一種UHF無(wú)源RFID標(biāo)簽芯片阻抗測(cè)試方法研究

  • 提出一種用于UHF無(wú)源RFID標(biāo)簽芯片阻抗測(cè)試的新方法。利用ADS仿真軟件對(duì)測(cè)試原理進(jìn)行了仿真并實(shí)際制作了測(cè)試板。利用設(shè)計(jì)的測(cè)試板對(duì)NXP_XM芯片和Impinj_Monza4芯片進(jìn)行了測(cè)試,分析了誤差產(chǎn)生的原因,最終測(cè)試結(jié)果符合預(yù)期效果。
  • 關(guān)鍵字: 阻抗  測(cè)試  方法研究  芯片  標(biāo)簽  UHF  無(wú)源  RFID  一種  

一種頻率特性測(cè)試儀的設(shè)計(jì)

  • 摘要:以單片機(jī)89C51和可編程邏輯器件(FPGA)為控制中心,設(shè)計(jì)了一個(gè)頻率特性測(cè)試儀,用于測(cè)試某一特定網(wǎng)絡(luò)的頻率響應(yīng)特性。本系統(tǒng)的主要特點(diǎn)是由FPGA驅(qū)動(dòng)多種串行芯片,在精簡(jiǎn)了系統(tǒng)電路結(jié)構(gòu)的同時(shí)也不影響程序的效率
  • 關(guān)鍵字: 頻率特性  測(cè)試  儀的設(shè)計(jì)    

基于89C52的二極管特性測(cè)試器的設(shè)計(jì)

  • 摘要:利用單片機(jī)具有的智能程序控制的特點(diǎn),設(shè)計(jì)了基于STC89C52單片機(jī)的“二極管特性測(cè)試器”,可對(duì)二極管一般特性進(jìn)行快速測(cè)試。通過(guò)穩(wěn)定線性電流源給二極管加載恒定電流,然后由高精度模數(shù)轉(zhuǎn)換器測(cè)試其
  • 關(guān)鍵字: 測(cè)試  設(shè)計(jì)  特性  二極管  89C52  基于  

光伏電池電氣性能的評(píng)測(cè)(上)

  • 來(lái)自于日光的電能是真正“綠色”和廉價(jià)的能源,但是需要基于光伏(PV)電池和存儲(chǔ)設(shè)備(例如電池)的能量轉(zhuǎn)換系統(tǒng)。PV或太陽(yáng)能電池在戶外照明領(lǐng)域,甚至在全家用和工業(yè)領(lǐng)域的應(yīng)用越來(lái)越廣泛;它們可以采用與半導(dǎo)體器件制造相同的工藝進(jìn)行制作。太陽(yáng)能電池的功能非常簡(jiǎn)單:吸收太陽(yáng)光的光子并釋放出電子。當(dāng)在太陽(yáng)能電池上連接負(fù)載時(shí),就會(huì)產(chǎn)生電流。
  • 關(guān)鍵字: 能量轉(zhuǎn)換  測(cè)試  

element14與LeCroy建立合作伙伴關(guān)系

  • 業(yè)界首個(gè)融合電子商務(wù)與在線社區(qū),并服務(wù)于全球數(shù)百萬(wàn)工程師和專業(yè)采購(gòu)人員的e絡(luò)盟母公司element14今天宣布,為了向亞太地區(qū)客戶提供更為全面的解決方案,公司已與示波器、協(xié)議分析儀和相關(guān)測(cè)試及解決方案方面的全球領(lǐng)先供應(yīng)商LeCroy(力科)公司結(jié)成新的合作伙伴關(guān)系。
  • 關(guān)鍵字: element14  測(cè)試  

解決LTE手機(jī)射頻信道衰落測(cè)試方案

  • 7100數(shù)字射頻測(cè)試儀采用 Aeroflex 經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的 RF 和基帶技術(shù),具有支持LTE 終端設(shè)備RF參數(shù)和協(xié)議測(cè)試的獨(dú)特功能。7100測(cè)試儀可從物理層到核心網(wǎng)絡(luò)IP基礎(chǔ)設(shè)施進(jìn)行全面網(wǎng)絡(luò)模擬,以小型臺(tái)面測(cè)試儀為L(zhǎng)TE移動(dòng)設(shè)備提供完整的測(cè)試系統(tǒng)。



  • 關(guān)鍵字: 衰落  測(cè)試  方案  信道  射頻  LTE  手機(jī)  解決  

基于LabVIEW的重力儀仿真與測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

  • 摘要:介紹基于LabVIEW的虛擬重力儀的設(shè)計(jì),它是由數(shù)據(jù)采集卡采集外部信號(hào),通過(guò)軟件編程實(shí)現(xiàn)儀器的顯示及測(cè)量等功能。該虛擬重力儀主要由數(shù)據(jù)采集、數(shù)字濾波、參數(shù)測(cè)量、頻譜分析、功率譜分析和波形存儲(chǔ)及讀取模塊組
  • 關(guān)鍵字: LabVIEW  重力  仿真  測(cè)試    

USB3.0認(rèn)證的新測(cè)試要求和應(yīng)對(duì)方案詳解

  • 隨著主流市場(chǎng)即將演進(jìn)到SuperSpeed USB,許多設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)正力圖加快設(shè)計(jì)認(rèn)證。本文將為您提供專家建議參考,幫助您輕松完成這一過(guò)程。 盡管市場(chǎng)上已經(jīng)出現(xiàn)了早期的USB 3.0產(chǎn)品,但主流市場(chǎng)轉(zhuǎn)向Super
  • 關(guān)鍵字: USB  3.0  測(cè)試  方案    
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測(cè)試介紹

  中文名稱:   測(cè)試   英文名稱:   test   定義1:   對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備,進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。   應(yīng)用學(xué)科:   航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科)   定義2:   用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。   應(yīng)用學(xué)科:   通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]
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