隨著半導體制程技術的提升，系統芯片的質量、可靠性與低成本是現今SoC（SoC; System on Chip）設計所面臨艱巨的挑戰。目前SoC設計對于內存（RAM、ROM、Embedded Flash、DRAM、Embedded DRAM）需求的比重越來越大，以先進制程的SoC而言，靜態隨機存取內存（SRAM; Static Random Access Memory）的比重已經超過50％。過去SoC在出廠前都會經過精密內存的檢測工程，若發生內存缺陷的情況，則會利用內存修復電路進行內存修復工程，以節省先進制
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