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尼得科精密檢測將參展“PCIM Asia Shanghai 2025”

作者: 時間:2025-09-23 來源:EEPW 收藏

株式會社(以下簡稱“本公司”)將參展2025年9月24日(周三)~9月26日(周五)于上海新國際博覽中心舉辦的“ Asia Shanghai 2025”。

該展會是代表電力電子行業的國際性展會,匯集了前沿的技術和趨勢,成為了把握市場新動向的平臺。此外,也是覆蓋了從功率半導體到封裝、系統以及應用的整個價值鏈的活動。

本公司將在本次展會上展示與IGBT/SiC等功率半導體檢測相關的前沿檢測技術及檢測裝置。此外,還將進行IGBT/SiC/GaN功率半導體檢測裝置NATS系列的實機演示,并提供如多功能測試儀等多樣化的功率半導體檢測解決方案。

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〈參展概要〉

●   會期:2025年9月24日(周三)~9月26日(周五)

●   會場:上海新國際博覽中心

●   展位:B46

●   官網:pcimasia-shanghai.cn.messefrankfurt.com

〈主要參展內容〉

●   IGBT/SiC半導體功率模塊可靠性檢測裝置“NATS系列”

●   AC/DC電容測量用多功能測試儀“R-700系列”


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