標準測試接口語言

　　標準測試接口語言(STIL)是1999年3月通過的，它是一個廣泛的行業標準，開始的意圖是從設計到制造整個期間使測試和測試設計(DFT)信息有明確和完整的通信。STIL標準包括幾個擴展版本，有些已獲通過，有些正在開發改變階段。

　　通常，工程技術人員所談論的STIL是指IEEE1450 .0，此擴展版本規定用于自動測試圖形產生(ATPG)工具到測試程序圖形產生工具傳輸向量和定時信息的標準數據格式。

　　在STIL通過時，業內已經有成熟的基于向量語言(如波形產生器語言WGL)的方案。STIL比已有的方案具有更有效的表示法。然而，在此語言中沒有足夠重要的新性能迫使可能的用戶改變他們已有的基礎結構。

　　盡管，此方案已存在一段時間，但一個完整、無縫STIL基DFT方案至今不能使用。沒有一個完整方案和一個迫使改變的原因，則采用它是慢速的。

　　然而，隨著SoC公司認識到STIL擴展型具有上市快、節省測試成本的顯著特點，其支持的呼聲增高。EDA、ATE和測試程序產生工具公司響應IP核和SoC供應商采用新標準基產品對STIL增長興趣的呼聲。隨著STIL擴展型所具有的上市快、低測試成本的具體實現，圍繞這些標準的市場繼續建立。下面詳述具有擴展型之一的P1450.6。

　　CTL基方案

　　IEEEP1450.6CTL(核測試語言)是STIL的一個擴展型，它為描述IP核和SoC測試信息生存標準格式。

　　CTL是針對SOCDFT的軟件語言。可用CTL捕獲測試器件系統中每個IP核所需的所有數據。CTL使測試相關信息在核供應商和與SoC測試有關的系統集成商中能明確通信。假若成功，則CTL和其他STIL擴展型一起將極大地使SoC的IP核和IP核測試再用變容易。

　　CTL所描繪設計信息如下：

　　Environment{
 　　CTL mode-1{
 　　//Mode Setup Seauence
 　　//Structures
 　　//Patterns Andtheirinfo
          　　}
  　　}

　　上述語言是CTL中設計配置中的分塊表示。這些配置稱之為測試模式。

　　為了處理不同設計的需求，語言采用指令序列，用STIL語法建立測試模式。對于每個測試模式，CTL提供適用的結構信息，設計終端的特性、測試應用相關的連通和測試圖形。用CTL提供的關于核的測試信息，可以再用于與核有關的測試圖形，在SoC上執行所有必須的DFT、ATPG和失效仿真操作以及完成測試呈現在核中的SoC邏輯。

　　CTL設計成允許采用的任何DET和測試方法。考慮到核的所有可能的集成情況，其語言必須完全描述每個已知的DFT概念和測試方法。這種通用性可使語言有很多其他應用。