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也談芯片生產中的“過程能力指數”分析

作者: 時間:2008-06-10 來源:JMP公司 收藏

本文引用地址:http://cqxgywz.com/article/83943.htm

圖四  的規格化箱型圖Normalized Box Plot

  當然,傳統的的具體數值也很重要,我們可以參考“列表”對所有16個質量指標進行定量的評價,其內容包括常用的Cp、Cpk和PPM值。

  總之,制造業面臨著巨大的質量和成本的挑戰。想象一下,在極其苛刻的潔凈空間內,不到1/2平方英寸范圍里,制作出數百萬個微米量級的元器件平面構造和立體層次……單憑這一點就應當充分重視制造中的過程能力分析。專業質量管理統計分析軟件有機地整合了質量統計理論、數據可視化手段和制造業的行業特 點,將復雜的統計分析用各種簡單易懂的方式展現出來,大大提高了我們分析問題、解決問題的能力,希望有更多的工程技術人員可以從中受益。

  注:是全球頂尖的統計學軟件集團SAS的業務部門之一,旨在為全球的客戶提供專業的高端六西格瑪統計分析解決方案;

  軟件是目前最先進的六西格瑪質量管理統計分析軟件,易用、高效、高速,被譽為“六西格瑪時代的統計分析大師”,是全球試驗設計(DOE)方法的領導者。JMP支持對海量數據進行分析,具備卓越的運行速度;他以解決問題為中心,按照解決問題的思路設置菜單(常規統計軟件大都按照統計方法設置菜單);JMP用交互性圖形及卓越的可視化能力極大地降低統計方法應用的難度。目前,JMP已經在全球擁有超過15萬名用戶,遍布各個行業。在行業,JMP已經成為一種行業標準,正在幫助英特爾、國民半導體、華虹NEC、中芯國際、日立、村田電子等國內外著名企業提升質量管理、優化業務流程和改善產品設計。


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