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三安集成亮相EDICON 2026 新一代工藝HP56加速高頻通信應用落地

發布人:ht1973 時間:2026-04-23 來源:工程師 發布文章

近日,第十一屆電子設計創新大會(EDICON 2026)在北京召開。作為全球微波與射頻領域的權威盛會,EDICON匯聚了產業鏈上下游的頂尖專家,共同探討下一代通信技術的演進路徑。三安光電旗下子公司三安集成受邀出席,并發表了題為《三安射頻技術在下一代應用中的布局》的技術報告,深入分享了其在砷化鎵(GaAs)、氮化鎵(GaN)及濾波器領域的最新工藝進展。

  隨著3GPP R18至R20標準的演進,R21發布在即,行業對5G-A/6G網絡的能力展開充分研討,射頻前端器件因此正面臨性能與設計的嚴峻挑戰。未來的射頻設計需在R19/R20等新標準下實現更高的功率等級(Power Class),同時非地面網絡(NTN)等新應用場景也對輸出功率及隔離度提出嚴苛指標。

  此外,隨著載波聚合(CA)技術及4G/5G協同雙連接(ENDC)的普及,射頻鏈路需在更小的物理尺寸內支持更大的帶寬和輸出功率,導致功放器件熱密度急劇上升。如何在提升功率附加效率(PAE)的同時,解決高功率下的熱耦合與可靠性問題,已成為當前射頻工程師亟待攻克的核心痛點。

  針對上述挑戰,三安集成在報告中詳細展示了最新一代砷化鎵工藝HP56的性能表現。對比三安的前代工藝,HP56在3.5GHz頻段下保持良好線性度的同時,實現了更高的功率增益和更優越的最大功率附加效率,相比前代HP12工藝,增益提升了2.6dB,效率提升了2.6%,能夠有效支持甚高頻及更大帶寬調制信號放大并顯著降低PA功耗。

  報告同時客觀指出,隨著功率密度的提升,芯片會面臨更明顯的熱失控(Thermal Runaway)風險。對此,三安集成通過仿真與實測,提出了具體的工藝優化建議,通過調整結構和金屬間距,可以有效降低結溫,緩解熱耦合效應,為設計客戶解決高功率下的可靠性問題提供了切實可行的參考方案。

  面向商業航天、非地面通信等未來高頻通信應用場景,三安集成也同步展示了在氮化鎵工藝與濾波器產品上的技術布局:

  ? 氮化鎵(GaN)技術:新一代工藝重點針對功率密度與電流崩塌效應進行了優化,旨在通過外延與工藝的代際升級,實現效率與可靠性的雙重提升,以滿足民用基站及商用航天對高效率的迫切需求。

  ? 濾波器產品:公司的1109 NTN SAW濾波器系列已覆蓋n256頻段及BDS接收頻段,能夠針對性解決衛星通信中現網共存頻段臨近過密、邊帶抑制要求高的技術難點,同時帶內插損僅為1dB左右,為天地一體化通信提供關鍵支持。

  三安集成將持續投入射頻工藝研發,以客戶需求為中心,為全球客戶提供高性能、高可靠性的射頻制造方案,助力下一代無線通信技術與產業的高質量發展。



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關鍵詞: 半導體

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