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半導體晶體管電路設計須知(一)

作者: 時間:2012-03-26 來源:網絡 收藏
13003E的集電極電壓電流波形進行了測試, 分析了開關工作的各個階段的損耗, 結果如表2所示, tON表示導通延時, toff表示關斷延時, Tw 為開關周期, P in為充電器輸入功率, P los STot為開關總的損耗, P loss tot /P in為開關損耗占系統輸入功率的百分比。

  

半導體晶體管電路設計須知(一)

  表2 四組APT13003E在充電器系統中各個階段的損耗分析

  從表2中可以看出, 在85 V 交流輸入電壓下,輻照之后的APT13003E 比未輻照的APT13003E 的關斷延時有了大幅的減小, 因此關斷損耗大幅的減小, 如輻照為10 kGy的管子的關斷損耗減小為未輻照管子的1 /6; 導通延時有所增加, 但增加的幅度較小, 導通損耗有較小的增加; 飽和壓降隨輻照劑量的增加而增加, 因此通態損耗隨輻照劑量的增加而增加。開通損耗、通態損耗的增加與關斷損耗的減小是一對矛盾, 因此必須選擇合適的輻照劑量, 才能使開關晶體管總的損耗最小。

  而在264 V輸入電壓下, 輻照后關斷損耗只有較小幅度的減小, 因此總損耗基本不變, 系統效率也沒有改善。如圖4 和圖5 分別為未經輻照的APT13003E 在85 V 和264 V輸入電壓下基極電流、集電極電壓和電流的波形。比較圖4和圖5中可以看出, 在264 V 輸入電壓條件下導通時集電極電流的尖峰比起85 V 時要大很多, 這是因為導通時變壓器寄生電容充電電壓增大了2. 1倍, 但充電時間只增加了約0. 6倍, 所以充電電流就會大大增加, 這也導致了APT13003E 的導通損耗由85 V 下的0. 016W 變為264 V下的0. 183W, 此時導通損耗占了總的損耗的大部分, 而電子輻照對導通損耗并沒有改善; 另一方面, 在APT13003E 關斷時, 集電極電壓并沒有直接降到0, 而是先經過一個近100 ns的電流“ 尾巴”之后, 才又下降到0, 此時集電極電壓已經比較大了, 因此這個電流“尾巴”所造成的損耗占關斷損耗的比例較大。產生這個“尾巴”的原因是, 關斷開關晶體管時, 由于管子的基區比較薄, 過大的基極電流引起較大的基區電位差, 使VBE 為負的情況下發射結局部正向偏置, 集電極電流遲遲降不下來。

  

半導體晶體管電路設計須知(一)

  圖4 85 V交流輸入電壓下APT13003E基極電流、集電極電壓、集電極電流波形圖

  

半導體晶體管電路設計須知(一)

  圖5 264 V 交流輸入電壓下APT13003E 基極電流、集電極電壓、集電極電流波形圖

  而經過電子輻照后的APT13003E, 其集電極電流的這個“尾巴”并沒有減小, 所以造成了輻照后的APT13003E 的關斷損耗并沒有大幅的降低, 因此系統的效率并沒有改善。我們一方面可以優化基極驅動電路, 使關斷初始時基極反向電流不至于太大, 避免產生電流“尾巴”, 而關斷的最后階段突增反向基極電流, 則在高輸入電壓下, 系統的效率就會有所提高; 另一方面, 通過分段繞制、使用介電常數小的絕緣材料、適當增加絕緣層厚度和靜電屏蔽等方法, 降低變壓器的寄生電容, 降低開關晶體管的導通損耗,系統效率也將提高。

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關鍵詞: 半導體 晶體管

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