- 本文首先介紹了Ad Hoc網絡及其相關協議的主要特點，根據網絡特性提出了性能測試的體系結構。圍繞體系結構中的不同測試內容，提出相關的測試方法，并詳細討論了網絡性能的評估手段和測試環境的設計。隨著現代通信技術
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Hoc Ad 網絡性能 測試
- 寬帶蜂窩數據業務市場正在迅速變化。僅僅在幾年前，UMTS技術仍處在早期部署階段，能夠利用提高帶寬的業務少之又少，而能夠支持這些業務的手機數量就更少。現在，UMTS終于慢慢成為主流技術，相應的中等價位的手機已經
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HSDPA HSUPA 測試 分析
- 引 言隨著單片機系統越來越廣泛地應用于消費類電子、醫療、工業自動化、智能化儀器儀表、航空航天等各領域，單片機系統面臨著電磁干擾（EMI）日益嚴重的威脅。電磁兼容性（EMC）包含系統的發射和敏感度兩方面的問題。
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設計 電磁兼容 系統 單片機
- 引 言：人機對話的界面種類有很多，比如顯示器、LED、LCD及帶觸摸屏的LCD等。其中后者是最近幾年剛發展起來的一項新技術，它通過計算機技術處理聲音、圖像、視頻、文字、動畫等信息，并在這些信息間建立一定的邏輯關
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算法 坐標 觸摸屏 系統 單片機
- 摘要：針對地質災害發生時周圍地質層都會受到不同程度的振動的特點，在當地質災害發生時監測其振動情況。為了給人們爭取逃生時間，在此基于MEMS加速度傳感器和GPRS模塊，采用MSP430單片機設計了一種小型、快速、低功
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系統 設計 監測 振動 MEMS 基于
- 多ADC系統的基準電壓設計,多模/數轉換器(ADC)系統所能達到的精度直接取決于ADC的基準電壓。舉例來講，醫療超聲成像系統通常會在其接收器的波束成形電路中包含大量的ADC，常常以16、24、32等為一組。要得到最高的波束精度，需要最大限度地減小
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ADC 系統 基準 電壓設計
- 摘要：在一個四維二次超混沌系統的基礎上，通過改變其中一個狀態變量構造成一個新的超混沌系統，并且通過模擬開關自動切換狀態變量，實現原超混沌系統和新的超混沌系統的自動循環切換。對新的超混沌系統的Lyapunov指
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電路 設計 仿真 切換 自動 混沌 系統 兩個
- 摘要：提出一種測試UHF頻段無源RFID標簽芯片靈敏度的方法。該方法依據矢量網絡分析儀和標簽測試儀接口特性阻抗相同的特性，利用矢量網絡分析儀測試標簽芯片的反射系數，然后通過標簽測試儀測試芯片和儀器接口的匹配損
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測試 方法研究 靈敏度 芯片 RFID 標簽 無源
- 日前，重慶市北培區的“半導體照明產業科技支撐示范工程”正式啟動。據了解，作為市科委第一批科技支撐示范工程項目，該項目力爭用3年時間，攻克大尺寸高品質低成本藍寶石產業化關鍵核心技術難點，實現LED材料及應用產品規模化生產能力，占領全球高端市場。
今年，市科委為進一步促進科技與經濟社會發展深度融合，切實發揮科技在推動發展方式轉變、調整產業結構中的支撐和引領作用，對科技計劃項目進行了重大改革。其中“121”科技支撐示范工程是重要的舉措之一，它是指&ldq
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半導體 LED
- 本文分析了大功率LED光源熱的產生、傳導，依據熱阻基本公式推導出比較完整的熱阻計算公式和測試方法，并討論了計算、測試熱阻對大功率LED封裝設計的實踐意義和應用產品的熱量處理。
關鍵詞：熱量管理 P-N結溫
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方法 測試 介紹 計算 LED 光源 大功率
- DSP控制的UPS逆變器的諧波調節系統介紹,一臺典型的在線式UPS系統框圖如圖1所示，它主要是由以下幾部分組成：整流濾波電路、充電器、逆變器、輸出變壓器及濾波路、靜態開關、充電電路、蓄電池組和控制監測、顯示告警及保護電路。其中最主要的部分就是由整流
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調節 系統 介紹 諧波 逆變器 控制 UPS DSP
- 加熱體采用鐵t鋁材料，使用溫度為0～450℃，采用鎳t鎳硅熱電偶做為溫度測量，由繼電器控制接觸器通與斷，從而使加熱溫度與給定溫度基本一致。使用加熱電源為低壓380V三相動力電源。加熱體采用星形連接，它們布設在
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系統 應用 溫控 KH103 調節器 溫度
- 中性點絕緣系統的接地電容電流，是電力系統的重要參數之一。通常采用附加電容法和金屬接地法進行測量和計算，但前者測量方法復雜，并且附加電容對測量結果的影響較大，而后者試驗中又具有一定的危險性。為此，本文提
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小電流 系統 對地 電容
- 2002年初，筆者著手寫一個IC卡預付費電表的工作程序，該電表使用Philips公司的8位51擴展型單片機87LPC764，要求實現很多功能，包括熄顯示、負荷計算與控制、指示閃爍以及電表各種參數的查詢等，總之，要使用時間的單
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優化 結構 語言程序 系統 單片機
- 高頻開關電源額定直流輸出電壓、浮充電壓、均充電壓、功率因數、穩壓精度、效率、雜音電壓(不接蓄電池組) 、電池溫度補償等。 1、額定直流輸出電壓：指市電經整流模塊變換后的額定輸出電壓，正選的電源電壓為-48
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參數 探討 技術 主要 開關電源 系統 高頻
半導體?測試?系統?介紹
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