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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 半導(dǎo)體?測(cè)試?系統(tǒng)?

半導(dǎo)體?測(cè)試?系統(tǒng)? 文章 最新資訊

動(dòng)力電池安全性技術(shù)解析

  • 在動(dòng)力電池安全性標(biāo)準(zhǔn)方面,目前模塊、系統(tǒng)對(duì)熱失控的防熱誘因測(cè)試方面,以及單體、模組和系統(tǒng)的生命周期安全性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)缺失,亟待研究與制定。現(xiàn)行國(guó)
  • 關(guān)鍵字: 測(cè)試  電池  

示波器模板測(cè)試功能解讀

  • 在電子產(chǎn)品的可靠性驗(yàn)證測(cè)試中,模板測(cè)試非常實(shí)用,長(zhǎng)時(shí)間監(jiān)控波形的故障率,并根據(jù)故障波形定位原因是保證品控質(zhì)量的重要手段,本文將對(duì)的模板測(cè)試功
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顯微高光譜系統(tǒng)測(cè)試LED光源分析報(bào)告

  • 顯微高光譜系統(tǒng)是高光譜相機(jī)、顯微鏡、計(jì)算機(jī)等結(jié)合的新型應(yīng)用方式,借助顯微鏡結(jié)構(gòu)在不同放大倍率下把待測(cè)試樣品的微觀尺度進(jìn)一步的提升的特點(diǎn),能夠
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輻射抗擾度測(cè)試系統(tǒng)

  • 輻射抗擾度測(cè)試系統(tǒng)適用于電氣、電子設(shè)備的電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn),它規(guī)定了試驗(yàn)等級(jí)何必要的實(shí)驗(yàn)程序。它是建立電氣電子設(shè)備在受到射頻電磁場(chǎng)輻射干擾
  • 關(guān)鍵字: 輻射  抗擾度  測(cè)試  

12KV雷擊浪涌測(cè)試系統(tǒng)

  • MIG1206-1P雷擊浪涌發(fā)生器瑞士原裝進(jìn)口,雷擊電壓最高到12KV,產(chǎn)品的性能符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-5和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T17626.5的標(biāo)準(zhǔn)要求。
  • 關(guān)鍵字: MIG1206-1P  雷擊浪涌  測(cè)試  

應(yīng)對(duì)毫米波測(cè)試的挑戰(zhàn)

  • 在很長(zhǎng)的一段時(shí)間內(nèi),毫米波(大于40GHz頻段)主要用于軍事領(lǐng)域,包括各種雷達(dá),衛(wèi)星通信等,民用應(yīng)用也只限于微波點(diǎn)對(duì)點(diǎn)的應(yīng)用中。由于工作在毫米波頻段
  • 關(guān)鍵字: 毫米波  毫米波頻段  測(cè)試  

LED照明色容差問題探究

  • 自牛頓發(fā)現(xiàn)白光是由彩色光混合而成以來(lái),現(xiàn)代色度學(xué)從誕生到現(xiàn)在歷經(jīng)了三百多年歷史,從Tomas Young(1802)的三原色學(xué)說(shuō),到Ewald Hering(1878)的原色學(xué)
  • 關(guān)鍵字: LED  控制  測(cè)試  

雙層PCB板制作過程與雙層PCB板制作工藝

  • 電路板是電子設(shè)計(jì)的承載體,是所有電子元器件以及電路匯總的地方,現(xiàn)在的電子產(chǎn)品功能越來(lái)越多,包含的元器件越來(lái)越多,電路設(shè)計(jì)越來(lái)越復(fù)雜,最基礎(chǔ)的
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淺談PCB疊層設(shè)計(jì)

  • 在設(shè)計(jì)多層PCB電路板之前,設(shè)計(jì)者需要首先根據(jù)電路的規(guī)模、電路板的尺寸和電磁兼容(EMC)的要求來(lái)確定所采用的電路板結(jié)構(gòu),也就是決定采用4層,6層,還
  • 關(guān)鍵字: 測(cè)試  PCB  

為何我的比較器如此振蕩?

  • 比較器看起來(lái)相當(dāng)簡(jiǎn)單。它們比較兩個(gè)信號(hào)電壓,并相應(yīng)地設(shè)置輸出高電平或低電平。然而,如果兩個(gè)輸入信號(hào)電壓非常接近,即使輸入信號(hào)上的一點(diǎn)噪聲也會(huì)
  • 關(guān)鍵字: 比較器  半導(dǎo)體  

PBGA封裝的建議返修程序

  • 本應(yīng)用筆記說(shuō)明從印刷電路板(PCB)移除塑封球柵陣列的建議程序。封裝描述PBGA是一種封裝形式,其主要區(qū)別性特征是利用焊球陣列來(lái)與基板(如PCB)接觸。此
  • 關(guān)鍵字: 測(cè)試  PBGA  

換流閥自動(dòng)化檢測(cè)技術(shù)在實(shí)際中的應(yīng)用

  • ldquo;換流閥是直流輸電工程的核心設(shè)備,換流閥產(chǎn)品價(jià)值約占換流站成套設(shè)備總價(jià)的22~25%,造價(jià)昂貴,并且它具有精密、脆弱、環(huán)境要求苛刻等特性,所
  • 關(guān)鍵字: 測(cè)試  控制  

電源效率測(cè)試方法

  • 電源行業(yè)有個(gè)最為重要的參數(shù),在電源原型板設(shè)計(jì)及調(diào)試過程中,工程師可以通過準(zhǔn)確評(píng)價(jià)功率及效率,精準(zhǔn)的定位主要功率損耗點(diǎn),更換器件或更改拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)
  • 關(guān)鍵字: 測(cè)試  功率  電容  

多功能存儲(chǔ)器芯片的測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案

  • 隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展, 存儲(chǔ)器的種類日益繁多,每一種存儲(chǔ)器都有其獨(dú)有的操作時(shí)序,為了提高存儲(chǔ)器芯片的測(cè)試效率,一種多功能存儲(chǔ)器芯片的測(cè)試系統(tǒng)
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動(dòng)態(tài)功率估算已達(dá)SoC設(shè)計(jì)限制

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半導(dǎo)體?測(cè)試?系統(tǒng)?介紹

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