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SoC測試資訊

基于新型MEMS開關提高SoC測試能力及系統產出

先進的數字處理器IC要求通過單獨的DC參數和高速數字自動測試設備(ATE)測試，以達到質保要求。這帶來了很大的成本和組織管理挑戰。本文將介紹ADGM1001 SPDT MEMS開關如何助力一次性通過單插入測試，以幫助進行...

MEMS開關 SoC測試 2022-11-28

應用混合游程編碼的SOC測試數據壓縮方法

提出了一種有效的基于游程編碼的測試數據壓縮/ 解壓縮的算法: 混合游程編碼, 它具有壓縮率高和相應解碼電路硬件開銷小的突出特點. 另外, 由于編碼算法的壓縮率和測試數據中不確定位的填充策略有很大的關系...

SoC測試數據壓縮 2017-06-04

采用可升級測試平臺迎接SoC測試的挑戰

系統級芯片(SoC)現在是半導體業界一個很熱門的字眼，可以說是工程突破及新型應用的同義詞。由于人們對消費產......

SoC測試可升級測試平臺 2011-12-02

SoC測試技術面臨的挑戰和發展趨勢

中國是全球半導體市場成長最快的區域，預計每年增長率超過25%，原因在于中國已經成為全球集成電路消費的中心、......

SoC測試 IC 2009-04-14

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