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TDK推出TDK SensEI的edgeRX Vision產(chǎn)品

●? ?TDK 揭曉了旗下 TDK SensEI 最新產(chǎn)品線——edgeRX Vision，這是一款搭載先進(jìn)人工智能的超高速缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，可對(duì)客戶的產(chǎn)品圖像及視頻進(jìn)行智能化解析與特征提取，以極高的精度識(shí)別小至1 毫米的組...

TDK TDK SensEI 2025-07-16

英特爾開發(fā)板試用：圖像檢測(cè)算法在RFID生產(chǎn)中產(chǎn)品缺陷檢測(cè)的應(yīng)用

我們公司是一個(gè)RFID電子標(biāo)簽生產(chǎn)制造企業(yè)，隨著AI技術(shù)的發(fā)展，我們將新的技術(shù)積極引入生產(chǎn)環(huán)節(jié)中，以便解決生產(chǎn)環(huán)節(jié)遇到的問題以及降低用工成本。以下是我們?cè)赗FID生產(chǎn)中遇到的問題：芯片綁定中的缺陷產(chǎn)品的檢測(cè)1.1 芯片綁...

圖像檢測(cè) RFID 2025-02-10

利用AI缺陷檢測(cè)系統(tǒng)提高PCB質(zhì)量

傳統(tǒng)的PCB制造商通常使用基于規(guī)則的機(jī)器視覺算法進(jìn)行缺陷檢測(cè)，而由于PCB上大約有2-3個(gè)電氣元件對(duì)比度低，無法從3D攝像頭捕獲的數(shù)據(jù)中準(zhǔn)確識(shí)別，每個(gè)PCB在自動(dòng)目視檢查后仍需要技術(shù)高超的檢查員進(jìn)行復(fù)檢。結(jié)果發(fā)現(xiàn)，AOI...

PCB 機(jī)器視覺 2024-05-17

RZ/V2M應(yīng)用于工業(yè)領(lǐng)域缺陷檢測(cè)

缺陷檢測(cè)在電子制造業(yè)中是非常重要的應(yīng)用。然而，由于存在的缺陷多種多樣，傳統(tǒng)的機(jī)器視覺算法很難對(duì)缺陷特征進(jìn)行完全建模和遷移缺陷特征，致使傳統(tǒng)機(jī)器視覺算法可重復(fù)使用性不是很大，并且需要區(qū)分工作條件，這將浪費(fèi)大量的人力成本。因...

瑞薩缺陷檢測(cè) 2023-09-28

工業(yè)用邊緣AI的應(yīng)用場(chǎng)景、實(shí)現(xiàn)條件與案例分析

　　迎?九?（《電子產(chǎn)品世界》編輯，北京?100038）　　摘?要：英特爾中國區(qū)物聯(lián)網(wǎng)事業(yè)部首席技術(shù)官兼首席工程師張宇博士稱目前邊緣AI主要改善了工業(yè)應(yīng)用中的三個(gè)方面，工業(yè)AI與其他產(chǎn)業(yè)AI的區(qū)別在于高實(shí)時(shí)性，實(shí)現(xiàn)工業(yè)A...

201912 工業(yè) 2019-11-29

如何正確認(rèn)識(shí)釹鐵硼外觀缺陷檢測(cè)

正確認(rèn)識(shí)釹鐵硼外觀缺陷檢測(cè)，有利于客觀認(rèn)識(shí)這項(xiàng)新型檢測(cè)技術(shù)。設(shè)備不是萬能的，但是沒有設(shè)備全靠人工檢測(cè)是風(fēng)險(xiǎn)極大的，長期來看，機(jī)器換人是必然趨勢(shì)。能檢五大類外觀缺陷外觀缺陷是在釹鐵硼生產(chǎn)環(huán)節(jié)中產(chǎn)生的，例...

釹鐵硼缺陷檢測(cè) 2016-10-22

LED芯片封裝缺陷檢測(cè)方法研究

由于壽命長、能耗低等優(yōu)點(diǎn)被廣泛地應(yīng)用于指示、顯示等領(lǐng)域。可靠性、穩(wěn)定性及高出光率是LED取代現(xiàn)有照明光源必須考慮的因素。封裝工藝是影響LED功能作用的主要因素之一，封裝工藝關(guān)鍵工序有裝架、壓焊、封裝。由于封...

LED 芯片封裝 2010-05-13

LED 芯片封裝缺陷檢測(cè)方法及機(jī)理研究

LED(Light-emittingdiode)由于壽命長、能耗低等優(yōu)點(diǎn)被廣泛地應(yīng)用于指示、顯示等領(lǐng)域。可靠性、穩(wěn)定性......

LED 芯片封裝 2010-05-12

基于SOPC技術(shù)的PET瓶缺陷檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)

摘要：介紹基于SOPC技術(shù)的PET瓶缺陷檢測(cè)系統(tǒng)的軟、硬件設(shè)計(jì)方法。利用SOPC Builder在FPGA芯片EP2C35F6726C上配置的NIOSⅡ軟核處理器作為控制核心，在Avalon總線上掛接接口模塊和用戶自...

SOPC PET 2009-07-03

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缺陷檢測(cè)

TDK推出TDK SensEI的edgeRX Vision產(chǎn)品

英特爾開發(fā)板試用：圖像檢測(cè)算法在RFID生產(chǎn)中產(chǎn)品缺陷檢測(cè)的應(yīng)用

利用AI缺陷檢測(cè)系統(tǒng)提高PCB質(zhì)量

RZ/V2M應(yīng)用于工業(yè)領(lǐng)域缺陷檢測(cè)

工業(yè)用邊緣AI的應(yīng)用場(chǎng)景、實(shí)現(xiàn)條件與案例分析

如何正確認(rèn)識(shí)釹鐵硼外觀缺陷檢測(cè)

LED芯片封裝缺陷檢測(cè)方法研究

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EEPW 2025 年度產(chǎn)業(yè)技術(shù)回顧與展望直播——機(jī)器人專場(chǎng)

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