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自動測試

　　目錄 　　1 正文 　　正文 　　現(xiàn)代自動測試起源于軍事上的需要，于50年代中期開展了大規(guī)模的研制，到60年代中后期已應(yīng)用于工業(yè)中并得到進一步發(fā)展。第一代自動測試系統(tǒng)幾乎都是為某些測試目的而專門設(shè)計制造的。為了適應(yīng)武器系統(tǒng)和工業(yè)裝備的迅速更新?lián)Q代，人們試圖制成“萬能”的自動測試系統(tǒng)，以至設(shè)備日益龐大復(fù)雜。自動測試的目的除加快測試速度之外，更重要的是節(jié)省高級熟練技術(shù)人員的復(fù)雜勞動，使之從事更重要的研究發(fā)展工作。