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ATPG

自動測試圖樣產生(Automatic test pattern generation， ATPG) 系統是一種工具，產生資料給制造出來后的數字電路作測試使用。 測試超大型集成電路，要達到非常高的錯誤涵蓋率（en:Fault coverage）是非常困難的工作，因為它的復雜度很高。 針對組合邏輯（Combinatorial logic）和循序邏輯（Sequential logic）的電路測試，必須要使用不同的 ATPG 方法。 。

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