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ATPG

自動測試圖樣產(chǎn)生(Automatic test pattern generation， ATPG) 系統(tǒng)是一種工具，產(chǎn)生資料給制造出來后的數(shù)字電路作測試使用。測試超大型集成電路，要達(dá)到非常高的錯誤涵蓋率（en:Fault coverage）是非常困難的工作，因為它的復(fù)雜度很高。針對組合邏輯（Combinatorial logic）和循序邏輯（Sequential logic）的電路測試，必須要使用不同的 ATPG 方法。。查看更多>>

低功耗制造性測試的設(shè)計-第二部分

假設(shè)設(shè)計的某個時鐘驅(qū)動了大量觸發(fā)器，以至它們的峰值開關(guān)動作超過設(shè)計的總體功率預(yù)算。我們不希望測試邏輯去改變?nèi)魏螘r鐘，相反我們將設(shè)計分割成N個模塊，各模塊具有自己的掃描啟動引腳，并且包含自己的掃描壓縮邏輯和掃描鏈。(如圖2...

ATPG 數(shù)字電路設(shè)計 2017-06-04

低功耗制造測試的設(shè)計-第一部分

完全的數(shù)字電路測試方法通常能將動態(tài)功耗提高到遠(yuǎn)超出其規(guī)范定義的范圍。如果功耗足夠大，將導(dǎo)致晶圓檢測或預(yù)老化(pre-burn-in)封裝測試失效，而這需要花大量的時間和精力去調(diào)試。當(dāng)在角落條件(corner condit...

ATPG DFT 2017-06-04

混合掃描測試解決方案的優(yōu)勢

掃描測試是測試集成電路的標(biāo)準(zhǔn)方法。絕大部分集成電路生產(chǎn)測試是基于利用掃描邏輯的 ATPG(自動測試向量生成)。掃描 ATPG 是一項成熟的技術(shù)，特點是結(jié)果的可預(yù)測性高并且效果不錯。它還能實現(xiàn)精確的缺陷診斷，有助于...

掃描測試 IC測試 2016-10-18

微捷碼向LogicVision提供ATPG技術(shù)授權(quán)

美國加州圣荷塞，芯片設(shè)計解決方案供應(yīng)商微捷碼（Magma®）設(shè)計自動化有限公司日前宣布，公司已向領(lǐng)先的半導(dǎo)體內(nèi)置自測（BIST...

微捷碼 BIST 2009-02-18

微捷碼發(fā)表有片上掃描鏈壓縮功能的Talus ATPG與Talus ATPGX

　　捷碼(Magma)設(shè)計自動化公司發(fā)表有片上掃描鏈壓縮功能的Talus ATPG與Talus ATPGX。這些先進的自動測試向量生成(ATPG) 產(chǎn)品使設(shè)計師能明顯改進測試質(zhì)量, 減少周轉(zhuǎn)時間并且降低納米級芯片的成本...

消費電子捷碼 2007-10-22

微捷碼發(fā)表有片上掃描鏈壓縮功能的Talus ATPG與Talus ATPGX

微捷碼(Magma)設(shè)計自動化公司發(fā)表有片上掃描鏈壓縮功能的Talus ATPG與Talus ATPGX。這些先進的自動測試向量生成(ATPG) 產(chǎn)品使設(shè)計師能明顯改進測試質(zhì)量, 減少周轉(zhuǎn)時間并且降低納米級芯...

消費電子微捷碼 2007-10-18

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ATPG

低功耗制造性測試的設(shè)計-第二部分

低功耗制造測試的設(shè)計-第一部分

混合掃描測試解決方案的優(yōu)勢

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微捷碼發(fā)表有片上掃描鏈壓縮功能的Talus ATPG與Talus ATPGX

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測試工具專欄.

ADI家庭總線數(shù)據(jù)線供電解決方案

EEPW 2025 年度產(chǎn)業(yè)技術(shù)回顧與展望直播——機器人專場

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