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MFM

MFM [編輯本段]磁力顯微鏡 　　(MFM)采用磁性探針對(duì)樣品表面掃描檢測(cè)，檢測(cè)時(shí)，對(duì)樣品表面的每一行都進(jìn)行兩次掃描：第一次掃描采用輕敲模式，得到樣品在這一行的高低起伏并記錄下來；然后采用抬起模式，讓磁性探針抬起一定的高度(通常為10～200nm)，并按樣品表面起伏軌跡進(jìn)行第二次掃描，由于探針被抬起且按樣品表面起伏軌跡掃描，故第二次掃描過程中針尖不接觸樣品表面（不存在針尖與樣品間原子的短程斥力）且與其保持恒定距離（消除了樣品表面形貌的影響），磁性探針因受到的長程磁力的作用而引起的振幅和相位變化，因此，將第二次掃描中探針的振幅和相位變化記錄下來，就能得到樣品表面漏磁場(chǎng)的精細(xì)梯度，從而得到樣品的磁疇結(jié)構(gòu)。一般而言，相對(duì)于磁性探針的振幅，其振動(dòng)相位對(duì)樣品表面磁場(chǎng)變化更敏感，因此，相移成像技術(shù)是磁力顯微鏡的重要方法，其結(jié)果的分辨率更高、細(xì)節(jié)也更豐富。 　　1。 在樣品表面掃描，得到樣品的表面形貌信息，這個(gè)過程與在輕敲模式中成像一樣； 　　2。

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