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了解制造商如何表征和估計用于電子元件老化預測的電壓參考的長期漂移（LTD）。雖然電壓參考的輸出在理想情況下應該與溫度和時間無關，但現實世界的電壓參考可能會受到溫度和老化的影響。考慮到這一點，本文將討論制造商如何表征和估計...

電子元件老化電壓基準 2024-08-07

使用溫度計算和Arrhenius方程了解電阻器和放大器的老化行為，以了解電阻器漂移、電阻器穩定性和運算放大器漂移。之前，我們討論了使用相對較短的測試時間來評估電子元件長期穩定性的高溫加速老化方法。在本文中，我們將繼續討論...

電子元件老化電阻 2024-08-05

了解如何計算老化過程的活化能，以及關于Arrhenius方程在預測晶體老化過程時的有用性的一些相互矛盾的觀點。在之前的一篇文章中，我們討論了高溫加速老化方法是一種有效的技術，它使制造商能夠使用相對較短的測試時間來確定電子...

Arrhenius方程電子元件老化 2024-08-02

了解由于使用石英晶體的溫度和時間，以及應用外推方法、老化方程和Arrhenius方程，電子元件的老化和穩定性挑戰。即使有固定的輸入，電子電路也不是完全穩定的；經常隨時間和溫度漂移。這些與理想行為的偏差會給精確測量增加相當...

電子元件老化穩定性 2024-08-01

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