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【測試解讀】ESD保護(hù)設(shè)計中的傳輸線脈沖TLP，怎么測？

隨著電子器件在汽車和其他產(chǎn)品上的應(yīng)用越來越廣泛（智能化），芯片的集成度也越來越高、體形也越來越小、研發(fā)的難度也越來越高，這些器件通常具有線間距短、線細(xì)、集成度高、運(yùn)算速度快、功耗低和高輸入阻抗的特點(diǎn)，這也導(dǎo)致了這類器件對...

ESD TLP 2024-03-28

如何測試ESD保護(hù)設(shè)計中的傳輸線脈沖TLP

ESD 保護(hù)設(shè)計 2024-03-28

帶有硅化物阻擋層的可控硅器件對維持電壓的影響*

基于0.18 μm雙極CMOS-DMOS（BCD）工藝，研究并實(shí)現(xiàn)了一種陽極和陰極兩側(cè)均加入硅化物阻擋層（SAB）的可控硅（SCR）器件，可用于高壓靜電放電保護(hù)（ESD）。利用二維器件仿真平臺和傳輸線脈沖測試系統(tǒng)（TLP...

可控硅（SCR）硅化物阻擋層（SAB） 2021-10-09

利用TLP進(jìn)行ESD保護(hù)元件的大電流性能鑒定

Ashton 博士說在正常工作條件下，ESD 保護(hù)元件應(yīng)該保持在不動作狀態(tài)，同時不會對電子系統(tǒng)的功能造成任何影響，這可以通過維持低電流以及足以在特定數(shù)據(jù)傳輸速率下維持?jǐn)?shù)據(jù)完整性的低電容值來達(dá)成。而在ESD 應(yīng)力沖擊或...

TLP ESD 2012-03-05

利用屏幕截圖和TLP進(jìn)行ESD保護(hù)元件的大電流性能鑒

TLP ESD 2010-12-22

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TLP

【測試解讀】ESD保護(hù)設(shè)計中的傳輸線脈沖TLP，怎么測？

如何測試ESD保護(hù)設(shè)計中的傳輸線脈沖TLP

帶有硅化物阻擋層的可控硅器件對維持電壓的影響*

利用TLP進(jìn)行ESD保護(hù)元件的大電流性能鑒定

利用屏幕截圖和TLP進(jìn)行ESD保護(hù)元件的大電流性能鑒

理解嵌入式多重處理技術(shù)的選擇

PCIe協(xié)議規(guī)范勘誤表

ADI家庭總線數(shù)據(jù)線供電解決方案

EEPW 2025 年度產(chǎn)業(yè)技術(shù)回顧與展望直播——機(jī)器人專場

EEPW 2025 年度產(chǎn)業(yè)技術(shù)回顧與展望直播——智能工廠專場

EEPW 2025 年度產(chǎn)業(yè)技術(shù)回顧與展望直播——汽車電子專場