在現(xiàn)代電子設(shè)備中,元器件的可靠性是系統(tǒng)穩(wěn)定運(yùn)行的基石。然而,在實(shí)際應(yīng)用中,我們常常會(huì)遇到各種各樣的器件失效問題。其中,過電應(yīng)力(Electrical Over Stress, EOS)導(dǎo)致的失效占比超過80%以上,而器件...
在現(xiàn)代電子設(shè)備中,元器件的可靠性是系統(tǒng)穩(wěn)定運(yùn)行的基石。然而,在實(shí)際應(yīng)用中,我們常常會(huì)遇到各種各樣的器件失效問題。其中,過電應(yīng)力(Electrical Over Stress, EOS)導(dǎo)致的失效占比超過80%以上,而器件...