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CMOS可靠性測試：脈沖技術如何助力AI、5G、HPC？

在半導體領域，隨著技術的不斷演進，對CMOS（互補金屬氧化物半導體）可靠性的要求日益提高。特別是在人工智能（AI）、5G通信和高性能計算（HPC）等前沿技術的推動下，傳統的可靠性測試方法已難以滿足需求。本文將探討脈沖技術...

CMOS 可靠性測試 2025-04-08

CMOS可靠性測試新趨勢：脈沖技術如何助力AI、5G、HPC？

對于研究半導體電荷捕獲和退化行為來說，交流或脈沖應力對典型的應力測試是一個有用的補充。NBTI（負偏置溫度不穩定性）和TDDB（隨時間變化的介電擊穿）試驗包括應力/測量循環。所施加的應力電壓通常是一個直流信號，使用它是因...

脈沖電壓可靠性測試 2025-03-26

Hold住嗎?最強LED照明可靠性測試詳解!

作為光源中的新興力量，led的發光方式與傳統光源截然不同。它是利用半導體PN節中的電子與空穴的復合來發光。......

Hold LED照明 2014-01-14

硅片級可靠性測試詳解

　引言　　硅片級可靠性（WLR）測試最早是為了實現內建（BIR）可靠性而提出的一種測試手段。硅片級可靠性測試的最 ......

硅片級可靠性測試 2013-11-30

晶圓級可靠性測試:器件開發的關鍵步驟（二）

可靠性測試儀器的發展趨勢　　就像前文所指出的那樣，可靠性測試需要與新器件的設計和新材料的使用密切關聯 ......

晶圓級可靠性測試 2013-11-30

晶圓級可靠性測試:器件開發的關鍵步驟（一）

摘要隨著器件尺寸的持續減小，以及在器件的制造中不斷使用新材料，對晶圓級可靠性測試的要求越來越高。在器件 ......

晶圓級可靠性測試 2013-11-30

用實例分析硬件可靠性測試設計

從硬件角度出發，可靠性測試分為兩類：　　以行業標準或者國家標準為基礎的可靠性測試。比如電磁兼容試驗、氣候類環境試驗、機械類環境試驗和安規試驗等。　　企業自身根據其產品特點和對質量的認識所開發的測試項目...

實例分析 2012-07-14

LED電源可靠性測試指標及規范

1、描述輸入電壓影響輸出電壓的幾個指標形式⑴穩壓系數① 絕對穩壓系數K表示負載不變時，穩壓 ......

LED 電源 2012-03-22

LED電源可靠性測試指標及規范詳解

1、描述輸入電壓影響輸出電壓的幾個指標形式⑴穩壓系數①絕對穩壓系數K表示負載不變時，穩壓......

LED電源可靠性測試 2011-04-17

WLR測試中所面臨的新挑戰

　　就像摩爾定律驅動半導體幾何尺寸的縮小一樣，有關解決半導體可靠性問題的活動也遵循一個似乎有點可以預測的周期。例如，技術演進到VLSI時，為了保持導線的電路速度，引入了鋁線連接。此時，很快就發現了電子遷移這類的可靠性問題...

半導體 VLS 2008-06-19

利用LabVIEW和IMAQ 進行光電設備的可靠性測試

為了對某光電設備進行可靠性試驗，需要由光應力源、電應力源、光具工作臺、振動試驗臺、光度測量設備和監測與記錄部分等組成可靠性試驗系統。...

LabVIEW IMAQ 2005-04-07

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可靠性測試