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初創(chuàng)公司Atum Works推出納米級(jí)3D打印技術(shù)，芯片制造成本可減90%

4 月 26 日消息，據(jù)外媒 Tom's Hardware 昨日?qǐng)?bào)道，初創(chuàng)公司 Atum Works 最近宣稱，其納米級(jí) 3D 打印技術(shù)有望替代現(xiàn)有的生產(chǎn)流程，進(jìn)而將芯片制造成本降低 90%。不過(guò)，這項(xiàng)技術(shù)有一個(gè)...

Atum Works 納米級(jí) 2025-04-27

激光驅(qū)動(dòng)顯微鏡以納米級(jí)分辨率分析磁性微結(jié)構(gòu)

以高分辨率分析磁性納米結(jié)構(gòu)是一項(xiàng)測(cè)試和測(cè)量挑戰(zhàn)，但它對(duì)于高級(jí)物理學(xué)見解以及高密度硬盤和磁帶驅(qū)動(dòng)器等實(shí)際產(chǎn)品都非常重要。自旋電子器件的小型化需要將單個(gè)磁性實(shí)體密集封裝，但當(dāng)使用納米級(jí)鐵磁體時(shí)，由于相鄰比特之間的相互作用而導(dǎo)...

激光驅(qū)動(dòng)顯微鏡納米級(jí) 2025-03-17

三星電子平澤工廠第二生產(chǎn)線開始量產(chǎn)

實(shí)現(xiàn)DRAM量產(chǎn)后，預(yù)計(jì)生產(chǎn)新一代VNAND與超精細(xì)制程的晶圓代工產(chǎn)品憑借更快更薄的產(chǎn)品搶占移動(dòng)設(shè)備市場(chǎng)，下一步進(jìn)軍汽車電裝市場(chǎng) 韓國(guó)首爾2020年8月30日 /美通社/ -- 三星電子平澤工廠第二生產(chǎn)線正式開工，首發(fā)...

EUV10 納米級(jí) 2020-08-31

中國(guó)科大實(shí)現(xiàn)納米級(jí)空間分辨電磁場(chǎng)量子傳感

中國(guó)科大郭光燦院士團(tuán)隊(duì)在實(shí)用化量子傳感的研究中取得重要進(jìn)展，該團(tuán)隊(duì)的孫方穩(wěn)小組實(shí)驗(yàn)實(shí)現(xiàn)50納米空間分辨力高精度多功能量子傳感。該系列研究成果發(fā)表在應(yīng)用物理權(quán)威期刊《Physical Review Applied》上。...

中國(guó)科納米級(jí) 2019-10-25

納米級(jí)螺旋線可望有效打擊仿冒

　　“仿冒”(counterfeiting)目前已經(jīng)普遍地發(fā)生在所有有價(jià)事物上了，包括貨幣、信用卡到芯片等。全世界各地的研究人員們正持續(xù)開發(fā)相關(guān)技術(shù)，期望確保贗品可被偵測(cè)出來(lái)，至今并已累積了許多成...

螺旋線納米級(jí) 2015-07-08

納米級(jí)發(fā)電機(jī)：用摩擦和靜電為手機(jī)充電

摩擦起電是眾所周知的物理現(xiàn)象，那么有沒有想過(guò)利用摩擦產(chǎn)生的電能給手機(jī)充電？一種由廉價(jià)材料制造的納米發(fā)電機(jī) ......

納米級(jí) 發(fā)電機(jī) 2013-01-29

調(diào)整光學(xué)方法用于納米級(jí)測(cè)量

關(guān)鍵字：納米級(jí)測(cè)量光學(xué)方法在納米尺度范圍內(nèi)，一些我們熟悉的材料特性會(huì)改變。因此隨著向納米領(lǐng)域探索的深入，不僅要表征新材料，而且越來(lái)越需要對(duì)熟知的材料進(jìn)行研究。來(lái)自納米科學(xué)與工程學(xué)院的納米科學(xué)“帝...

光學(xué) 方法 2011-12-28

美國(guó)研發(fā)出低成本柔韌性好透明鋰離子電池

　　據(jù)美國(guó)物理學(xué)家組織網(wǎng)7月25日?qǐng)?bào)道，美國(guó)科學(xué)家在最新一期《美國(guó)國(guó)家科學(xué)院院刊》上指出，他們研發(fā)出了一種透明的鋰離子電池，其柔韌性非常好，而且，成本與常規(guī)電池相當(dāng)，有望在消費(fèi)電子領(lǐng)域“大展拳腳”。　　此前，已有幾家...

鋰電池納米級(jí) 2011-07-31

新型納米級(jí)電接觸電阻測(cè)量的新技術(shù)

納米級(jí)電氣特性研究納米級(jí)材料的電氣特性通常要綜合使用探測(cè)和顯微技術(shù)對(duì)感興趣的點(diǎn)進(jìn)行確定性測(cè)量。但是，必須考慮的一個(gè)額外因素是施加的探針壓力對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響，因?yàn)楹芏嗖牧暇哂袎毫ο嚓P(guān)性，壓力會(huì)引起...

納米級(jí) 接觸電阻 2010-04-22

納米級(jí)電接觸電阻測(cè)量的新技術(shù)

納米級(jí) 接觸電阻 2009-05-13

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