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問題人工智能(AI)應用對高性能內存，特別是高帶寬內存(HBM)的需求不斷增長，這是否會導致自動測試設備(ATE)廠商的設計變得更加復雜？回答AI需要高密度和高帶寬來高效處理數據，因此HBM至關重要。ATE廠商及其開發的...

自動測試設備 PhotoMOS 2025-05-29

本文提出，CMOS開關可以取代自動測試設備(ATE)廠商使用的PhotoMOS?開關。CMOS開關的電容乘電阻(CxR)性能可以與PhotoMOS相媲美，且其導通速度、可靠性和可擴展性的表現也很出色，契合了先進內存測試時...

自動測試設備 PhotoMOS 2025-02-19

組件電源（DPS）IC能夠彈性加載電壓、加載電流，為自動測試設備（ATE）提供動態測試能力。當負載電流在兩個可編程電流限值之間時，DPS IC為電壓源，并且在達到設定的電流限值時平穩轉換為精密電流源/灌電流。圖一為ADI...

自動測試設備組件電源 2024-08-13

?? Boston Semi Equipment Group（BSE 集團）旗下公司 Test Advantage 宣布已經收購了位于菲律賓的一家面向自動測試設備 (ATE) 市場的硬件維修中心 Microsta...

Test Advantage Microstats 2011-06-07

　　首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷股份有限公司(納斯達克代號：VRGY)，本次于半導體業界之主要研究暨分析公司VLSIresearch所舉辦的2011年客戶滿意度調查中榮膺“最佳測試設備供應商“與“10大最佳晶片制造設備...

惠瑞捷自動測試設備 2011-05-23

　　為了向半導體行業提供融合了設備專長與創新金融解決方案的獨特組合，業內資深人士 Douglas Elder、Bryan Banish、Colin Scholefield 和 Sandy Garrett 今天宣布創辦 B...

半導體設備自動測試設備 2010-08-27

　　摘要：SOC已經成為集成電路設計的主流。SOC測試變得越來越復雜，在設計時必須考慮DFT和DFM。本文以一SOC單芯片系統為例，在其設計、測試和可制造性等方面進行研究，并詳細介紹了SOC測試解決方案及設計考慮。關...

SOC 單芯片系統 2008-07-04

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