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芯測科技提供便捷版內存測試方案EZ-BIST

　　中美貿易戰持續延燒，引發后續波及全球的貿易戰爭，當中更是突顯知識產權合法的重要性。有鑒于此，深耕于開發內存測試與修復技術的芯測科技(iSTART-Tek，簡稱iSTART)為了協助客戶對知識產權領域規避嚴重失信的風險...

芯測 EZ-BIST 2019-01-16

基于FPGA動態可重構技術的二模冗余MIPS處理器

現場可編程門陣列(Field Programmable Gate Array， FPGA)是基于SRAM的一種硬件電路可重配置電子邏輯器件，可通過將硬件描述語言編譯生成的硬件配置比特流編程到FPGA中，而使其硬件邏輯發生...

FPGA SRAM 2014-02-14

瑞薩通過Mentor的TestKompress/LogicBIST混合解決方案

Mentor Graphics公司(納斯達克代碼：MENT)日前宣布瑞薩電子正在使用Tessent? TestKompress?/LogicBIST混合解決方案，以應對ISO 26262標準規定的對安全很重要的測試要求。...

瑞薩 Mentor 2013-09-26

安捷倫推出適用于電子測量的多功能臺式邊界掃描分析儀

安捷倫科技公司(NYSE：A)日前宣布推出 Agilent x1149 邊界掃描分析儀。...

安捷倫分析儀 2013-02-20

基于BIST的IP核測試方案設計

1 引言　　隨著半導體工藝的發展，片上系統SOC已成為當今一種主流技術。基于IP復用的SOC設計是通過用戶自定義邏輯(UDL)和連線將IP核整合為一個系統，提高了設計效率，加快了設計過程，縮短了產品上市時間。但是隨著設...

BIST IP核 2012-08-19

模擬BIST的四項基本原則

引言　　數字BIST的工作原理：用一個LFSR(線性反饋移位寄存器)生成偽隨機的位模式，并通過臨時配置成串行移位 ......

BIST 基本原則 2012-02-12

基于BIST的IP核測試方案

BIST IP核 2011-11-30

實用模擬BIST的基本原則

　引言　　大多數IC設計工程師都了解數字BIST的工作原理。它用一個LFSR（線性反饋移位寄存器）生成偽隨機的位模式，并通過臨時配置成串行移位寄存器的觸發器，將這個位模式加到待測電路上。數字BIST亦用相同的觸發器...

BIST 模擬 2011-07-07

基于BIST的編譯碼器IP核測試

BIST 編譯碼器 2010-02-28

BIST在SoC片上嵌入式微處理器核上的應用

BIST在SoC片上嵌入式微處理器核上的應用,介紹了SoC片上嵌入式微處理器核的一種測試技術――片內測試(BIST)。講述了片上系統的由來以及兩個重要特點。與傳統的測試方法比較后，討論了MereBIST、LogicBIS...

應用微處理器 2009-10-15

基于LFSR優化的BIST低功耗設計

在BIST(內建自測試)過程中，線性反饋移位寄存器作為測試矢量生成器，為保障故障覆蓋率，會產生很長的測試矢量，從而消耗了大量功耗。在分析BIST結構和功耗模型的基礎上，針對test―per―scan和test―per―c...

LFSR BIST 2009-09-09

微捷碼向LogicVision提供ATPG技術授權

美國加州圣荷塞，芯片設計解決方案供應商微捷碼（Magma®）設計自動化有限公司日前宣布，公司已向領先的半導體內置自測（BIST...

微捷碼 BIST 2009-02-18

直接合成方法簡化串行數據接收機極限測試

　　多年來，寬同步并行總線一直是在數字設備之間交換數據的既定的實現技術。但是，定時問題一直“折磨著”較高時鐘頻率和數據速率的并行總線，嚴重地限制了它們滿足服務器和圖形系統中更高速計算結構需求的能力...

AWG BIST 2008-04-08

沒有ATE生成向量的精密測試(04-100)

　　消費類電子產品正在變得更復雜和更快速，因而使得測試成本成為問題。大的和復雜的SoC往往是消費類產品的心臟，不管它們的性能多么先進，其成本必須是低的。　　各種內裝自測試(BIST)已應用于測試DUT(被測器件)的內...

BIST DUT 2008-04-01

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