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SiC MOSFET應用技術在雪崩條件下的魯棒性評估

?本文將探討如何在雪崩工作條件下評估SiC MOSFET的魯棒性。MOSFET功率變換器，特別是電動汽車驅動電機功率變換器，需要能夠耐受一定的工作條件。如果器件在續流導通期間出現失效或柵極驅動命令信號錯誤，就會致使變換器...

MOSEFT VDS 2020-08-04

Verkotan采用羅德與施瓦茨的PWC技術進行5G NR OTA基站測試

測試與測量方案供應商羅德與施瓦茨（Rohde & Schwarz）近期推出了R&S PWC200，這是市場上第一款平面波轉換器（PWC）。Verkotan是第一家選擇此技術的獨立測試機構，以空口（OTA）的方式測試5G ...

PWC OTA 2020-06-10

羅德與施瓦茨和聯發科技共同驗證 5G NR 動態頻譜共享（DSS）

如今，4G LTE網絡已經成功部署，從而6 GHz以下的頻率被大量利用，如何在這些低頻段上部署5G NR？這給全球網絡運營商帶來了新的挑戰。動態頻譜共享（DSS）是一種使移動網絡運營商可以在同一頻帶中使用LTE和5G N...

DSS DUT 2020-03-27

鼎陽科技發布SSG5000X系列射頻模擬/矢量信號源

近日，深圳市鼎陽科技股份有限公司發布SSG5000X系列射頻模擬/矢量信號發生器。射頻輸出頻率高達6 GHz, 內部基帶源帶寬150 MHz。SSG5000X 可作為本地振蕩器（LO）,發射器（transmitter），...

LO 發射器 2020-03-02

CAN一致性測試隔離和非隔離供電的電路區別

　　汽車電子中有隔離和非隔離DUT，常用于在與發動機、BMS等容易產生瞬時高壓的設備部分會采用隔離的通訊連接，隔離DUT的目的是為防止電磁干擾影響DUT通信信號以及瞬時高壓脈沖損壞DUT;而非隔離DUT，則常用于與低壓車...

CAN DUT 2019-03-02

利用FPGA實現原型板原理圖的驗證

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PCB DUT 2017-06-04

如何準確測量CAN節點的信號邊沿參數

　　CAN總線設計規范對于CAN節點的信號邊沿各項參數都有著嚴格的規定，如果不符合規范，則在現場組網后容易出現不正常的工作狀態，各節點間出現通信故障。具體要求如表 1所示，為測試標準“GMW3122信號邊沿標...

CAN DUT 2015-07-26

ICE時代正在悄然離去

　　硬件仿真是唯一一個可以部署在多個操作模式中的驗證工具。事實上，它可應用于四個主要模式中，而且模式間的結合使用可以增加靈活性。基于以下兩個特征對硬件仿真的應用模式進行分類：對映射到硬件仿真器中被測設計(DUT)的激勵類...

ICE DUT 2015-05-07

理解RF器件性能測量過程中的紋波：理論與實驗(下)

　　本小節將計算圖1e所示介電模塊多次反射的反射和傳輸系數。圖2顯示了該介電模塊內正常入射層波多次相互作用情況。 ...

RF DUT 2014-04-01

理解RF器件性能測量過程中的紋波：理論與實驗(上)

　　在RF器件參數描述(例如：增益、線性和回波損耗等)期間，我們有時會看到紋波。出現這些紋波的原因是，信號在線纜、連接器、評估板線路、受測器件(DUT)和封裝內傳播時存在多次反射情況。這些互連結點上的阻抗錯配，導致這些紋...

RF DUT 2014-04-01

新的吉時利電源允許高達10kV的安全擊穿測試

　　先進電氣測試儀器與系統的世界級領導者-吉時利儀器日前宣布，推出兩款優化的高壓電源，用于高電壓的設備和材料測試，高能物理和材料科學研究。2290-5?5kV型電源和2290-10型?10kV電源非常適合于功率半導體器件...

吉時利 2290 2014-03-20

吉時利推出經濟型雙通道與三通道可編程電源最高性價比產品

吉時利儀器公司，作為先進電性測試儀器與測試系統的行業領導者，日前宣布2200系列可編程直流電源又增加兩款多通道電源產品。同現有競爭產品相比，這兩款電源產品具有更大的輸出準確度優勢，不僅價格優勢明顯，而且提高了易用性，非常...

吉時利測量儀器 2012-10-10

支持4個雙天線DUT的非信令2G/3G/LTE綜測方案

智能手機和平板電腦的旺盛市場需求迫使生產線尋求更大吞吐量的無線綜測解決方案，專攻生產線測試解決方案的Litepoint公司今年6月14日應時而動，推出了同時支持1、4和8部DUT的2G/3G/LTE智能手機和平板電腦無線...

方案 2G/3G/LTE 2012-10-05

基于NI TestStand 和LabVIEW開發模塊化的軟件架構

當今企業所面臨的挑戰之一是測試成本越來越高。由于設備的復雜性不斷增加，所以測試這些設備的成本也在不斷提高。因為測試對于產品質量至關重要,而更加復雜的電子設備需要更新式、更先進的測試儀器，所以產品的測試成本過高，無法與其較...

NI 測試系統 2012-07-09

如何提高射頻測試儀的精度

電子產品世界,為電子工程師提供全面的電子產品信息和行業解決方案,是電子工程師的技術中心和交流中心,是電子產品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網絡家園...

射頻測試儀器射頻測量 2012-01-30

把握六點助你提高RF微波測試正確性

RF微波測試正確性 2012-01-04

矢網Wiltron360B應用在RF仿真中的

矢量網絡分析儀 Wiltron360B 2011-12-28

Multitest的MT9510通過XTC實現擴展溫度控制

　　面向集成設備制造商(IDM)和最終測試分包商，設計和制造測試分選機、測試座、測試負載板的領先廠商Multitest公司，日前宣布欣然宣布其MT9510通過擴展溫度校準(XTC)功能實現了擴展溫度控制。　...

Multitest 測試負載板 2011-05-10

DDS信號源在掃頻測試中的具體應用

電子設計中經常碰到的問題是對待測電路(DUT)傳輸特性的測試，這里所說的傳輸特性包括增益和衰減、幅頻特......

DDS信號源掃頻測試 2010-07-28

如何降低測試系統開關噪聲(04-100)

　　為測試電子和機電器件設計開關系統所遇到的問題和設計產品本身一樣多。隨著器件中高速邏輯的出現以及與更靈敏模擬電路的連接，使得降低測試開關系統中的噪聲比以前任何時候更加重要。　　本文所述的噪聲降低技術準則是針對信號頻...

測試噪聲 2008-04-01

沒有ATE生成向量的精密測試(04-100)

　　消費類電子產品正在變得更復雜和更快速，因而使得測試成本成為問題。大的和復雜的SoC往往是消費類產品的心臟，不管它們的性能多么先進，其成本必須是低的。　　各種內裝自測試(BIST)已應用于測試DUT(被測器件)的內...

BIST DUT 2008-04-01

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DUT