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掃描電子顯微鏡（SEM）在失效分析中的應用

No.1 引言掃描電子顯微鏡的簡稱為掃描電鏡，英文縮寫為SEM 。它利用細聚焦的電子束，轟擊樣品表面，通過電子與樣品相互作用產生的二次電子、背散射電子等，對樣品表面或斷口形貌進行觀察和分析。在失效分析中，SEM...

掃描電子顯微鏡 SEM 2022-08-18

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