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鈍化技術減少了鈣鈦礦太陽能電池的缺陷

在過去的幾十年里，太陽能電池越來越普遍，全球越來越多的個人和企業現在依靠太陽能為他們的家庭或運營供電。因此，世界各地的能源工程師一直在努力尋找有前途用于光伏發展、環保無毒、易于采購和加工的材料。這些材料包括基于鈣鈦礦的材...

鈍化技術鈣鈦礦 2025-04-27

英特爾用AI技巧發現數據中心芯片中隱藏的缺陷

對于大型數據中心中的高性能芯片，數學可能是敵人。由于超大規模數據中心正在進行的計算規模龐大，在數百萬個節點和大量硅片上全天候運行，因此會出現極其罕見的錯誤。這只是統計數據。這些罕見的、“無聲的”數據錯誤不會在傳統的質量控...

英特爾 AI 2025-04-25

考慮缺陷可能性，將車用IC DPPM降至零

半導體公司需要思考如何應對所有設計流程中的新挑戰，方能在快速成長的車用 IC市場中提升競爭力。為了符合ISO 26262國際安全規范中零百萬缺陷率（DPPM）的目標，可測試性設計（DFT）工程師采用了新的測試模式類型，包...

缺陷車用IC 2022-07-17

基于DM642的橋梁纜索表面缺陷圖像采集及傳輸系統設計

針對目前國內橋梁纜索表面缺陷檢測的不足，提出一種基于DM642的纜索表面缺陷圖像采集及傳輸系統。介紹了該系統的硬件平臺以及軟件設計。系統的硬件平臺...

642 DM 2018-09-11

使用SPI找到無鉛制造缺陷的根本原因

錫膏印刷在無鉛制造質量中發揮著關鍵作用，為印刷過程SMT組裝流程的后續環節部分提供了關鍵的基礎。為使制造商能夠處理回流焊后焊點的相關問題，根據錫膏沉積特定的根本原因,對無鉛對生產線最終質量的影響是至關重要...

SPI 無鉛 2016-10-22

船體結構焊縫超聲波探傷智能化方法

摘要：通過使用計算機控制的陣列式超聲波探頭簡化超聲波探傷過程中探頭的運動方式，實現超聲波探傷的自動化和......

超聲波探傷 2013-07-05

數據采集硬件：如何避免缺陷與誤差

誤差在日常生活中，我們對顯示在各種屏幕或計算機上的測量數據向來是深信不疑的。例如：汽車儀表盤上......

數據采集缺陷 2013-05-29

電源設計小貼士 50：鋁電解電容器常見缺陷的規避方法

因其低成本的特點，鋁電解電容器一直都是電源的常用選擇。但是，它們壽命有限，且易受高溫和低溫極端條件的影響。鋁電解電容器在浸透電解液的紙片兩面放置金屬薄片。這種電解液會在電容器壽命期間蒸發，從而改變其電...

規避方法 2013-02-26

針對FPGA內缺陷成團的電路可靠性設計研究

引言微小衛星促進了專用集成電路(ASIC—ApplicatiON Spceific Integrated Circuit)在航天領域的應用。現場可編程門陣列(FPGA —Field Progra...

FPGA 缺陷 2012-10-30

LED燈具的致命缺陷―浪涌電壓

所有的LED燈具都有這種致命的缺陷，而且至今為止，沒有人提出過好的解決辦法。所有搞LED電源的，或是搞LED成品燈具的，都對這個問題避而不談，裝作不知道，然而實際量產，這個問題更是層出不窮，當然還有更多不怎么懂...

LED 燈具 2012-10-25

LED照明產品檢測方法中的缺陷和改善的對策

傳統的LED 及其模塊光、色、電參數檢測方法有電脈沖驅動 ,CCD 快速光譜測量法,也有在一定的條件下,熱平衡后的測量法,但這些方法的測量條件和結果與LED 進入照明器具內的實際工作情況都相差甚遠。文章介紹了通過Vfm...

LED 照明產品 2012-08-27

嵌入式軟件技術的缺陷查找方法介紹

嵌入式軟件技術的缺陷查找方法介紹,本文將介紹如何避免那些隱蔽然而常見的錯誤，并介紹的幾個技巧幫助工程師發現軟件中隱藏的錯誤。大部分軟件開發項目依靠結合代碼檢查、結構測試和功能測試來識別軟件缺陷。盡管這些傳統技術非常重要，...

方法介紹 2012-08-16

巧妙查找嵌入式軟件設計中的缺陷

巧妙查找嵌入式軟件設計中的缺陷,本文將介紹如何避免那些隱蔽然而常見的錯誤，并介紹的幾個技巧幫助工程師發現軟件中隱藏的錯誤。大部分軟件開發項目依靠結合代碼檢查、結構測試和功能測試來識別軟件缺陷。盡管這些傳統技術非常重要，而...

設計缺陷 2012-06-25

LED芯片/器件封裝缺陷的非接觸檢測技術

摘要：為了在大批量封裝生產線上對LED的封裝質量進行實時檢測，利用LED具有與PD類似的光伏效應的特點，導出了LED芯片/器件封裝質量與光生電流之間的關系，并根據LED封裝工藝過程的特點，研制了LED封裝質量非接觸檢測...

非接觸檢測技術 2012-05-14

控制SMT焊接幾種缺陷方式的解析

1、引言表面組裝技術在減小電子產品體積、重量和提高可靠性等方面的突出優點，迎合了未來制造技術的要求。但是，要制定和選擇適用于具體產品的表面組裝工藝不是簡單的事情，因為SMT技術是涉及了多項技術的復雜的系統...

方式解析 2012-04-28

晶體硅電池組件EL缺陷分析

:EL檢測儀，又稱太陽能組件電致發光缺陷檢測儀，是跟據硅材料的電致發光原理對組件進行缺陷檢測及生產工藝監控的專用測試設備。給晶體硅電池組件正向通入1-1.5倍Isc的電流后硅片會發出1000-1100nm的紅外光，測試儀...

缺陷分析 2012-04-24

LED照明產品檢測中的缺陷及改善

一、序言LED 照明產業發展到現在,我們對LED 照明產品標準和檢測方法的回顧、小結的時候已經基本到來。傳統的 LED 及其模塊光、色、電參數檢測方法有電脈沖驅動,CCD 快速光譜測量法,也有在一定的條件下,熱平衡后...

LED 照明產品 2012-03-28

降低汽車用PCB缺陷率的六大方法

前言汽車電子市場是繼電腦、通訊之后PCB的第三大應用領域。隨著汽車從傳統意義上的機械產品，逐步演化、發展成為智能化、信息化、機電一體化的高技術產品，電子技術在汽車上的應用已十分廣泛，無論是發動機系統...

PCB 汽車 2012-03-17

DLP拼接屏的技術缺陷

DLP拼接大屏作為大屏拼接領域的主力軍，一直被廣泛應用于多個領域。而且，隨著技術的日漸完善以及人們大屏幕視覺需求的火熱，其應用范圍更加寬泛，應用環境也更加廣泛，隨著而來的選購維護問題也更加復雜。其實大屏作...

缺陷技術 2012-03-12

針對產品的缺陷，三相多功能電能表解決方案誕生

針對產品的缺陷，三相多功能電能表解決方案誕生,背景電能表是用來測量電能的儀表，又稱電度表，火表，電能表，千瓦小時表，指測量各種電學量的儀表。目前國內的電能表設計已經走過了由8位MCU向通用DSP甚至專用DSP的變革，通用...

電能表解決方案 2012-03-07

缺陷對石墨烯電子結構的影響

摘要基于第一性原理計算方法，通過密度泛函理論(DFT)和廣義梯度近似(GGA)對本征及含有缺陷的石墨烯超晶胞進行了電子結構的計算，研究了多種缺陷對石墨烯電子結構的影響。研究發現，多種缺陷均使石墨烯能帶在費米能級...

影響結構 2012-02-20

查找嵌入式軟件設計中的缺陷的方法

查找嵌入式軟件設計中的缺陷的方法,本文將介紹如何避免那些隱蔽然而常見的錯誤，并介紹的幾個技巧幫助工程師發現軟件中隱藏的錯誤。大部分軟件開發項目依靠結合代碼檢查、結構測試和功能測試來識別軟件缺陷。盡管這些傳統技術非常重要，...

缺陷方法 2012-02-12

LED芯片封裝缺陷檢測方案

摘要：LED(Light-emitting diode)由于壽命長、能耗低等優點被廣泛地應用于指示、顯示等領域。可靠性、穩定性及高出光率是LED取代現有照明光源必須考慮的因素。...

檢測方案 2012-01-09

機器視覺在光纖端面缺陷檢測中的應用

摘要：傳統的光纖端面缺陷檢測用的是人工檢測方式，這種檢測方式效率很低，檢測結果的主觀性很強。對光纖端面缺陷使用機器視覺檢測，能極大地提高檢測效率和檢測準確性。首先將采集到的圖像通過圖像處理二值化，接著...

檢測應用 2011-12-22

利用視覺系統來防止PCB缺陷的產生

1、前言　　在現代電子產品世界中，PCB(印刷電路板)是組成電子產品的重要環節，很難想象在一臺電子設備中有不采用PCB的，所以PCB的質量如何將對電子產品能否長期正常可靠工作帶來非常大的影響。提高 PCB的質量是電子...

PCB 視覺系統 2011-09-29

基于骨架模板配準的OLED顯示屏斑痕缺陷檢測技術

針對OLED顯示屏的自動化缺陷檢測問題，提出了一種新的檢測方法。首先，基于顯示屏的原圖像，提取其骨架信息，進行分塊處理后快速地與模板圖像配準，通過差影法實現斑痕缺陷的初次提取。然后通過大津法確定圖像的閾值，將圖像分割并進...

斑痕缺陷 2011-09-29

藍色發光二極管晶片制備技術的一些缺陷

現在LED晶片廠商在制作LED藍色芯片工藝大致分四種：1.藍寶石襯底GaN基質LED這是大多數晶片廠商常用......

藍色發光二極管晶片制備技術 2011-09-03

查找嵌入式C語言程序/軟件中的缺陷的多種技術

查找嵌入式C語言程序/軟件中的缺陷的多種技術,基于模式的靜態代碼分析、運行時內存監測、單元測試以及數據流分析等軟件驗證技術是查找嵌入式C語言程序/軟件缺陷行之有效的方法。上述技術中的每一種都能查找出某一類特定的錯誤。即便...

多種技術 2010-11-23

淺析PCB電鍍純錫缺陷

　　一、前言　　在線路板的制作過程中，多數廠家因考慮成本因素仍采用濕膜工藝成像，從而會造成圖形電鍍純錫時難免出現“滲鍍、亮邊(錫薄)”等不良問題的困擾，鑒于此，本人將多年總結出的鍍純錫工藝...

PCB 電鍍 2010-10-26

嵌入式軟件技術的缺陷查找方法

嵌入式軟件技術的缺陷查找方法,　　本文將介紹如何避免那些隱蔽然而常見的錯誤，并介紹的幾個技巧幫助工程師發現軟件中隱藏的錯誤。大部分軟件開發項目依靠結合代碼檢查、結構測試和功能測試來識別軟件缺陷。盡管這些傳統技術非常重要，...

方法查找 2010-10-18

光致發光技術在檢測晶體Si太陽電池缺陷的應用

引言　　近年來，光伏產業發展迅猛，提高效率和降低成本成為整個行業的目標。在晶體Si太陽電池的薄片化發展過程中，出現了許多嚴重的問題，如碎片、電池片隱裂、表面污染、電極不良等，正是這些缺陷限制了電池的光電...

電池缺陷 2010-06-17

基于LED芯片封裝缺陷檢測方法研究

摘要：LED(Light-emitting diode)由于壽命長、能耗低等優點被廣泛地應用于指示、顯示等領域。可靠性、穩定性及高出光率是LED取代現有照明光源必須考慮的因素。 LED(Light-emitting...

檢測方法研究 2010-05-06

基于DM642的橋梁纜索表面缺陷圖像采集及傳輸系統設

針對目前國內橋梁纜索表面缺陷檢測的不足，提出一種基于DM642的纜索表面缺陷圖像采集及傳輸系統。介紹了該系統的硬件平臺以及軟件設計。系統的硬件平臺主要由3路視頻解碼芯片SAA7113、可編程邏輯器件（CPLD）、物理層收...

642 DM 2010-04-13

如何查找嵌入式軟件設計中的缺陷

如何查找嵌入式軟件設計中的缺陷,本文將介紹如何避免那些隱蔽然而常見的錯誤，并介紹的幾個技巧幫助工程師發現軟件中隱藏的錯誤。大部分軟件開發項目依靠結合代碼檢查、結構測試和功能測試來識別軟件缺陷。盡管這些傳統技術非常重要，而...

設計缺陷 2010-04-13

基于心電反饋的注意力缺陷多動障礙矯正儀設計

0 引言注意力缺陷多動障礙(Attention Deficit Hy-peractivity Disorder，簡稱ADHD)是兒童和青少年常見的行為問題之一，是由非智力因素引起的一組征候群，通常患兒智力正常或接近正常。...

障礙矯正 2009-12-04

基于FPGA玻璃缺陷圖像采集處理系統

在進行圖像采集過程中，重點需要解決采集系統的實時性問題。而這里選用的多線陣CCD拼接圖像的采集方法勢必導致在低級算法階段會產生極大的數據流，應用一個高速的嵌入式處理模塊則能很好地完成圖像處理的低級算法部分。在此分析了玻璃...

FPGA 玻璃 2009-11-11

JMP和Minitab的比較——Pareto帕累托圖

最近在網上查閱資料，發現有些朋友常常在選擇六西格瑪軟件時在JMP和Minitab之間猶豫良久。正好我所在的公......

六西格瑪 Minitab 2009-06-04

衛星數字電視系統缺陷及解決思路研究

1 引言DVB-S數字衛星直播系統標準是為了滿足衛星轉發器的帶寬及衛星信號的傳輸特點而設計的，目前國內衛星數字電視市場廣泛采用該標準。其版權保護主要是基于條件接收系統(Conditional AccessSystem，C...

思路研究 2009-05-05

使用SPI找到無鉛制造缺陷的根本原因

使用SPI找到無鉛制造缺陷的根本原因 Jeff Harrell, 安捷倫科技自動光學檢測系統(AOI)產品經理錫膏印刷在無鉛制造質量中發揮著關鍵作用，為印刷過程SMT組裝流程的后續環節部分提供了關鍵...

SPI 測量 2006-12-06

英飛凌推出測試芯片消除VIA缺陷

英飛凌推出測試芯片消除VIA缺陷提高產品的可靠性英飛凌公司在全球范圍內率先推出一種全新方法，該方法可消除高度集成半導體電路制造過程中引起產品缺陷的一個最常見原因：過孔電氣...

VIA 測量 2006-11-15