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芯片測試

　　芯片測試 　　設計初期系統級芯片測試 　　SoC的基礎是深亞微米工藝，因此，對Soc器件的測試需要采用全新的方法。由于每個功能元件都有其自身的測試要求，設計工程師必須在設計初期就做出測試規劃。 　　為SoC設備所做的逐塊測試規劃必須實現：正確配置用于邏輯測試的ATPG工具；測試時間短；新型高速故障模型以及多種內存或小型陣列測試。對生產線而言，診斷方法不僅要找到故障，而且還要將故障節點與工作正常的節點分離開來。

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