久久ER99热精品一区二区-久久精品99国产精品日本-久久精品免费一区二区三区-久久综合九色综合欧美狠狠

IC測試

　　IC測試 　　任何一塊集成電路都是為完成一定的電特性功能而設計的單片模塊，IC測試就是集成電路的測試，就是運用各種方法，檢測那些在制造過程中由于物理缺陷而引起的不符合要求的樣品。如果存在無缺陷的產品的話，集成電路的測試也就不需要了。由于實際的制作過程所帶來的以及材料本身或多或少都有的缺陷，因而無論怎樣完美的產品都會產生不良的個體，因而測試也就成為集成電路制造中不可缺少的工程之一。 　　IC測試分類 　　IC測試一般分為物理性外觀測試（Visual Inspecting Test），IC功能測試（Functional Test），化學腐蝕開蓋測試（De-Capsulation），可焊性測試（Solderbility Test），直流參數（電性能）測試（Electrical Test）， 不損傷內部連線測試（X-Ray），放射線物質環保標準測試（Rohs）以及失效分析（FA）驗證測試。

相關標簽