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IC測試

　　IC測試 　　任何一塊集成電路都是為完成一定的電特性功能而設(shè)計的單片模塊，IC測試就是集成電路的測試，就是運用各種方法，檢測那些在制造過程中由于物理缺陷而引起的不符合要求的樣品。如果存在無缺陷的產(chǎn)品的話，集成電路的測試也就不需要了。由于實際的制作過程所帶來的以及材料本身或多或少都有的缺陷，因而無論怎樣完美的產(chǎn)品都會產(chǎn)生不良的個體，因而測試也就成為集成電路制造中不可缺少的工程之一。 　　IC測試分類 　　IC測試一般分為物理性外觀測試（Visual Inspecting Test），IC功能測試（Functional Test），化學(xué)腐蝕開蓋測試（De-Capsulation），可焊性測試（Solderbility Test），直流參數(shù)（電性能）測試（Electrical Test）， 不損傷內(nèi)部連線測試（X-Ray），放射線物質(zhì)環(huán)保標(biāo)準(zhǔn)測試（Rohs）以及失效分析（FA）驗證測試。查看更多>>

  • IC測試資訊

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