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IC測試

  IC測試   任何一塊集成電路都是為完成一定的電特性功能而設計的單片模塊,IC測試就是集成電路的測試,就是運用各種方法,檢測那些在制造過程中由于物理缺陷而引起的不符合要求的樣品。如果存在無缺陷的產品的話,集成電路的測試也就不需要了。由于實際的制作過程所帶來的以及材料本身或多或少都有的缺陷,因而無論怎樣完美的產品都會產生不良的個體,因而測試也就成為集成電路制造中不可缺少的工程之一。   IC測試分類   IC測試一般分為物理性外觀測試(Visual Inspecting Test),IC功能測試(Functional Test),化學腐蝕開蓋測試(De-Capsulation),可焊性測試(Solderbility Test),直流參數(電性能)測試(Electrical Test), 不損傷內部連線測試(X-Ray),放射線物質環保標準測試(Rohs)以及失效分析(FA)驗證測試。

  • IC測試資訊

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