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封裝測試

半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造、晶圓測試、芯片封裝和封裝后測試組成。   所謂封裝測試其實就是封裝后測試,把已制造完成的半導(dǎo)體元件進行結(jié)構(gòu)及電氣功能的確認(rèn),以保證半導(dǎo)體元件符合系統(tǒng)的需求的過程稱為封裝后測試。   也可稱為終段測試Final Test。在此之前,由于封裝成本較高整片晶元還必須經(jīng)過針測Probe Test。查看更多>>

  • 封裝測試資訊

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  • 封裝測試專欄

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