EEPW
技術(shù)應(yīng)用
從芯片設(shè)計一次性成功和設(shè)計工具展開講述,設(shè)計過程包括:前端設(shè)計、后端設(shè)計和設(shè)計驗證。下面將開始講述芯片設(shè)計概述。 由于成本提高和產(chǎn)品周期縮短,芯片開發(fā)者正致力于芯片設(shè)計的一次性成功。在芯片的設(shè)計過程中,制造商正在使用一些方法幫助設(shè)計者理解和實現(xiàn)面向制造(DFM)的設(shè)計技術(shù)。
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芯片設(shè)計